[发明专利]用于检测颗粒物质的设备和方法有效
| 申请号： | 201711227834.6 | 申请日： | 2017-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN108303355B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 梁尚爀;金东求 | 申请（专利权）人： | 现代自动车株式会社;起亚自动车株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 张晶;赵永莉 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开一种用于检测颗粒物质(PM)的设备，其在检测颗粒物质时，根据吸引颗粒物质来测量电容的变化。所述设备包括：供电单元，其施加用于吸引PM的偏置电压；检测单元，其通过使用从偏置电压施加的检测电压来形成磁场并且通过将PM吸引到磁场来由PM产生PM电阻；以及测量单元，其包括串联的第一电容器和第二电容器并且通过将任意一个电容器并联地连接到检测单元来测量根据PM电阻的变化的第一电容器和第二电容器的变化的电容。本发明还公开一种用于检测颗粒物质的方法，其包括：施加偏置电压；产生PM电阻；以及通过使用该设备来测量根据PM电阻的变化的变化的电容。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 颗粒 物质 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测颗粒物质，即PM的设备，所述设备根据吸引所述颗粒物质来测量电容的变化，所述设备包括：供电单元，所述供电单元施加用于吸引PM的偏置电压；检测单元，所述检测单元通过使用从所述偏置电压施加的检测电压来形成磁场并且通过将PM吸引到所述磁场来由PM产生PM电阻；以及测量单元，所述测量单元包括串联的第一电容器和第二电容器并且通过将任意一个电容器并联地连接到所述检测单元来测量根据所述PM电阻的变化的所述第一电容器和所述第二电容器的变化的电容。
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