[发明专利]用于检测颗粒物质的设备和方法

权利要求书

1.一种用于检测颗粒物质，即PM的设备，所述设备根据吸引所述颗粒物质来测量电容的变化，所述设备包括：

供电单元，所述供电单元施加用于吸引PM的偏置电压；

检测单元，所述检测单元在施加有来自所述偏置电压的检测电压的两个连接端子之间形成磁场，所述磁场吸引PM并通过将PM吸引到所述磁场来由PM产生PM电阻；以及

测量单元，所述测量单元包括串联的第一电容器和第二电容器并且通过将任意一个电容器并联地连接到所述检测单元来测量根据所述PM电阻的变化的所述第一电容器和所述第二电容器的变化的电容。

2.根据权利要求1所述的设备，其中所述供电单元

进一步包括串联地连接到端子的偏置电阻，所述偏置电压被施加到所述端子，并且

通过控制所述偏置电阻来控制从所述偏置电压施加的所述检测电压。

3.根据权利要求2所述的设备，其中所述偏置电阻采用基于兆欧的电阻，即基于MΩ的电阻，并且被设置成在施加所述偏置电压之前最小地输出所述电容。

4.根据权利要求1所述的设备，其中

所述连接端子被间隔地安装以形成用于吸引PM的所述磁场。

5.根据权利要求1所述的设备，其中当所述PM电阻减小并且因此发生短路时，所述检测单元通过切断在所述第一电容器和所述第二电容器之间并联地连接的任意一个电容器来将所述测量单元的电容增加到最大值。

6.根据权利要求1所述的设备，其中所述供电单元和所述测量单元彼此电分离以在没有切换操作的情况下施加所述偏置电压，并且在施加所述偏置电压的同时测量所述电容。

7.一种用于检测颗粒物质的方法，所述方法包括：

由供电单元施加用于吸引颗粒物质，即PM的偏置电压；

由检测单元在施加有来自所述偏置电压的检测电压的两个连接端子之间形成磁场并且所述磁场吸引PM并通过将PM吸引到所述磁场来由PM产生PM电阻；以及

由包括串联的第一电容器和第二电容器并且将任意一个电容器并联地连接到所述检测单元的测量单元来测量根据PM电阻的变化的所述第一电容器和所述第二电容器的变化的电容。

8.根据权利要求7所述的方法，其中施加电压包括通过控制被串联地连接到施加了所述偏置电压的端子的偏置电阻来控制所述检测单元的所述检测电压。

9.根据权利要求7所述的方法，其中产生所述PM电阻包括：

通过吸引PM来减小所述PM电阻，

通过减小所述PM电阻来使所述检测单元短路，并且

切断在所述第一电容器和所述第二电容器之间并联地连接的任意一个电容器。

10.根据权利要求9所述的方法，其中测量所述电容包括通过将任意一个电容器切断来将由所述测量单元测量的电容增加到最大值。