[发明专利]阵列式发射率参考物在审
| 申请号： | 201711220806.1 | 申请日： | 2017-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN107796521A | 公开（公告）日： | 2018-03-13 |
| 发明（设计）人： | 李文军;王潇楠 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学 |
| 主分类号： | G01J5/52 | 分类号： | G01J5/52 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310018 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及阵列式发射率参考物，包括长方体金属基底，矩形槽，矩形翅，对称线，所述长方体金属基底上表面存在一系列矩形槽和矩形翅，所述长方体金属基底表面存在一根对称线。本发明通过设计阵列式发射率参考物，能够作为参考物在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间，并提供连续可选的表面单元，可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率，其对称式结构可使温场更加稳定，对该阵列式发射率参考物标定后可作为发射率参考样品，小巧简单，操作方便。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 发射 参考 | ||
【主权项】：
本发明涉及阵列式发射率参考物，包括长方体金属基底(1)，矩形槽(2)，矩形翅(3)，对称线(4)，其特征在于：所述长方体金属基底(1)上表面存在一系列矩形槽(2)和矩形翅(3)，在长方体金属基底(1)表面存在一根对称线(4)。
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