[发明专利]阵列式发射率参考物

说明书

技术领域

本发明涉及红外测温技术领域，尤其涉及阵列式发射率参考物。

背景技术

红外测温技术在民用和工业领域都得到了广泛应用。用红外测温设备测量物体的温度，需要知道被测物体的表面发射率。但确定物体的表面发射率却比较困难，原因是表面发射率不仅取决于物体材料种类，还和物体表面状况等因素有关。在测温过程中，为了先确定表面发射率，常用辅助方法是采用发射率已知的物体作为参考物。然而目前使用的参考物如黑胶布，规格不一，不能重复使用，寿命短，加热后易损伤，作为发射率参考物其发射率不稳定。

现阶段对于阵列式发射率参考物作为发射率已知的参考物不是很多，现技术有三个缺点，一是测温区间不够宽；二是在工作温度区间内，参考物体发射率是一个定值或区域值，不能连续调节；三是多数参考物体为非对称结构，其自身温场不稳定，使测量发射率精度受到影响。

发明内容

本发明的目的是为了克服现有发射率参考物的不足，提供阵列式发射率参考物。

本发明涉及阵列式发射率参考物，包括长方体金属基底，矩形槽，矩形翅，对称线，所述长方体金属基底上表面存在一系列矩形槽和矩形翅，所述长方体金属基底表面存在一根对称线。

作为本发明的优选技术方案，所述长方体金属基底作为基底，长宽高约为70mm×30mm×20mm，长方体金属基底整体为对称型结构，长方体金属基底采用纯铝制金属材料，平稳性好，导热性好，可重复使用，寿命长，其对称结构使温场更加稳定。

作为本发明的优选技术方案，所述矩形槽由在长方体金属基底上表面切割后切除的空间形成，矩形槽深度以对称线为中心往两侧均匀依次递增，矩形槽以对称线为轴左右对称，具有宽广的发射率分布，可提供连续可调的发射率，其对称结构使温场更加稳定。

作为本发明的优选技术方案，所述矩形翅由在长方体金属基底上表面切割后未被切除的部分形成，矩形翅深度以对称线为中心往两侧均匀依次递增，矩形翅以对称线为轴左右对称，矩形槽和矩形翅的在长方体金属基底上表面的宽度比例1∶3，矩形槽和矩形翅的组合使参考物发射率平稳连续分布，其对称结构使温场更加稳定。

作为本发明的优选技术方案，所述对称线在长方体金属基底表面，对称线平行于矩形槽且为长方体金属基底的对称轴，使温场稳定，辐射均匀。

本发明通过设计阵列式发射率参考物，能够作为参考物在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间，提供连续可选的表面单元，可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率，其对称式结构可使温场更加稳定，对该阵列式发射率参考物标定后可作为发射率参考样品，小巧简单，操作方便。

附图说明

图1为本发明的结构示意图。

图1中：1.长方体金属基底；2.矩形槽；3.矩形翅；4.对称线。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

请参阅图1，图1为本发明的结构示意图。

阵列式发射率参考物，包括长方体金属基底1，矩形槽2，矩形翅3，对称线4，所述长方体金属基底1上表面存在一系列矩形槽2和矩形翅3，所述长方体金属基底1表面存在一根对称线4。

选取纯铝制金属材料的长方形金属基底1，长宽高约为70mm×30mm×20mm，在长方形金属基底1表面的中心处以平行于长方形金属基底1宽度的方向画一条对称线4，此对称线4为长方形金属基底1的对称轴，在长方体金属基底1上表面以平行于对称线4的方向进行切割，切割后切除的空间形成矩形槽2，矩形槽2深度以对称线4为中心往两侧均匀依次递增，矩形槽2以对称线4为轴左右对称，在长方体金属基底1上表面切割后未被切除的部分形成矩形翅3，矩形翅3深度以对称线4为中心往两侧均匀依次递增，矩形翅3以对称线4为轴左右对称，矩形槽2和矩形翅3的在长方体金属基底1上表面的宽度比1∶3，至此，阵列式发射率参考物制作完成。

使用时将阵列式发射率参考物放置在加热装置中测量其发射率，由于其长方体金属结构，所以导热性好且不会形变。加热后由于其对称性结构，温场和热辐射均匀稳定。使用红外测温设备照射该阵列式发射率参考物时，可得到连续稳定可调的发射率，标定后可作为发射率参考样品，小巧简单，操作方便。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。