[发明专利]电子部件输送装置及电子部件检查装置在审
申请号: | 201711210302.1 | 申请日: | 2017-11-27 |
公开(公告)号: | CN108459257A | 公开(公告)日: | 2018-08-28 |
发明(设计)人: | 前田政己;山崎孝 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 张永明;玉昌峰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种电子部件输送装置及电子部件检查装置,能够准确且高效地进行电子部件的检查。电子部件输送装置(10)具备:检查区域(A3),配置有检查部(16),检查部(16)能够进行以第一温度检查电子部件(90)的第一检查和在第一检查后以不同于第一温度的第二温度检查电子部件(90)的第二检查;第一载置区域(A1),能够配置第一载置部(200),第一载置部(200)载置第一检查前的电子部件(90);以及第二载置区域(A5),位于与第一载置区域(A1)不同的位置,并能够配置第二载置部(200),第二载置部(200)载置第二检查前的电子部件(90)。 | ||
搜索关键词: | 电子部件 载置部 检查 输送装置 载置区域 检查装置 温度检查 载置 配置 检查区域 | ||
【主权项】:
1.一种电子部件输送装置,其特征在于,具备:检查区域,能够配置检查部,所述检查部能够进行以第一温度检查电子部件的第一检查和在所述第一检查后以不同于所述第一温度的第二温度检查所述电子部件的第二检查;第一载置区域,能够配置第一载置部,所述第一载置部能够载置所述第一检查前的所述电子部件;以及第二载置区域,位于与所述第一载置区域不同的区域,并能够配置第二载置部,所述第二载置部能够载置所述第二检查前的所述电子部件。
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