[发明专利]设备异常的检测方法、装置、存储介质及电子设备有效

专利信息
申请号: 201711167682.5 申请日: 2017-11-21
公开(公告)号: CN107977301B 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 孙卓然 申请(专利权)人: 东软集团股份有限公司
主分类号: G06F11/34 分类号: G06F11/34;G06F11/30
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 魏嘉熹;南毅宁
地址: 110179 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 本公开涉及一种设备异常的检测方法、装置、存储介质及电子设备,该方法包括:对预设时段内设备的包含多种监控指标的原始检测数据集合进行筛选,得到包含与该设备的健康状态具有相关性的监控指标的第一检测数据集合;通过对该第一检测数据集合进行核函数变换和主成分分析PCA,获取相应的统计量限值;通过当前时间点采集到的该设备的第二检测数据集合,获取该设备在当前时间点的相应的统计量;并通过该统计量与前述统计量限值的对比,确认该目标设备在该当前时间点是否处于异常状态。能够实现在指标监控上兼顾多个指标之间的相互作用对设备的影响,也能够对可能出现的健康状况问题进行预测,提高IT运维的安全性和效率。
搜索关键词: 设备 异常 检测 方法 装置 存储 介质 电子设备
【主权项】:
一种设备异常的检测方法,其特征在于,所述方法包括:对预设时段内目标设备的包含M种监控指标的原始检测数据集合进行筛选,得到包含N种监控指标的第一检测数据集合,所述N种监控指标为在所述预设时间段内与所述目标设备的健康状态具有相关性的监控指标,其中N小于或等于M;通过对所述第一检测数据集合进行核函数变换和主成分分析PCA处理,获取所述目标设备的健康状态投影矩阵、霍特林T方统计量限值和平方预报误差SPE统计量限值;通过所述目标设备的第二检测数据集合以及所述健康状态投影矩阵,获取所述目标设备在当前时间点的第一霍特林T方统计量和第一SPE统计量,所述第二检测数据集合为当前时间点采集到的包含所述N种监控指标的检测数据的集合;根据所述第一霍特林T方统计量和所述第一SPE统计量,与所述霍特林T方统计量限值和所述SPE统计量限值的对比结果,确认所述目标设备在所述当前时间点是否处于异常状态。
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