[发明专利]一种适用于多种环境下测量PCIE卡功耗的装置与方法

摘要

本发明提出了一种适用于多种环境下测量PCIE卡功耗的装置与方法，通过设计PCIE转接板解决了主板PCIE总线3.3V和12V的电压电流的测量，搭建了测试环境并通过所设计的测量设备计算PCIE卡的功耗，同时结合多种环境下的加压方法，与系统下用命令读出的功耗值进行对比，实现多种环境下对PCIE卡功耗的掌握。本发明所提出的测试方法可在多种应用环境下使用，不受OS限制，能够实时掌握PCIE卡的功耗，且可实现跟软件读取进行对比，更清晰直观的展现PCIE卡功耗以及利用率情况，可普遍应用于选型测试以及兼容性测试中。

主权项

一种适用于多种环境下测量PCIE卡功耗的装置，其特征在于，包括：PCIE卡，所述PCIE卡为与PCIE总线接口插接式连接的外插卡，用于实现对应的功能作用；PCIE转接卡，所述PCIE转接卡连接在主板PCIE插槽上，且上述PCIE卡安装在该PCIE转接卡上以实现该PCIE卡与PCIE总线接口的插接式连接；数据采集与计算设备，所述数据采集与计算设备与PCIE转接卡电连接，通过采集PCIE转接卡传递过来的电信号并计算而得到PCIE卡的功耗；其中，所述PCIE转接卡内部包括有基于欧姆定律设计实现的电信号采集电路，所述电信号采集电路能够采集得到用于计算PCIE卡功耗所需的电信号，并将电信号传递给数据采集与计算设备；其中，所述数据采集与计算设备计算得到PCIE卡的功耗，并将该计算结果与系统下通过命令行形式直接获取的功耗值进行对比，以分析所述PCIE卡的功耗性能。