[发明专利]一种适用于多种环境下测量PCIE卡功耗的装置与方法

权利要求书

1.一种适用于多种环境下测量PCIE卡功耗的装置，其特征在于，包括：

PCIE卡，所述PCIE卡为与PCIE总线接口插接式连接的外插卡，用于实现对应的功能作用；PCIE转接卡，所述PCIE转接卡连接在主板PCIE插槽上，且上述PCIE卡安装在该PCIE转接卡上以实现该PCIE卡与PCIE总线接口的插接式连接；

数据采集与计算设备，所述数据采集与计算设备与PCIE转接卡电连接，通过采集PCIE转接卡传递过来的电信号并计算而得到PCIE卡的功耗；

其中，所述PCIE转接卡内部包括有基于欧姆定律设计实现的电信号采集电路，所述电信号采集电路能够采集得到用于计算PCIE卡功耗所需的电信号，并将电信号传递给数据采集与计算设备；

其中，所述数据采集与计算设备计算得到PCIE卡的功耗，并将该计算结果与系统下通过命令行形式直接获取的功耗值进行对比，以分析所述PCIE卡的功耗性能。

2.如权利要求1所述的适用于多种环境下测量PCIE卡功耗的装置，其特征在于，所述装置可以测量PCIE卡在3.3V与12V供电电压下的功耗，所述PCIE转接板中的电信号采集电路具体设计方式为：在3.3V和12V供电线路中串联一个精密电阻，并测量所述精密电阻两端的电压。

3.如权利要求2所述的适用于多种环境下测量PCIE卡功耗的装置，其特征在于，所述数据采集与计算设备获得12V及3.3V电路电压情况下精密电阻两端的电压值U1和U2，由于已知精密电阻的阻值，可以根据安培定律分别得出12V及3.3V电路电压下的电流值I1与I2，再根据瓦特定律计算出12V及3.3V电路电压下电路的功耗P1与P2，PCIE卡的总功耗为P1与P2之和。

4.如权利要求3所述的适用于多种环境下测量PCIE卡功耗的装置，其特征在于，数据采集与计算设备使用安捷伦数据采集仪，所述PCIE转接卡的电信号采集电路中所设置的精密电阻两端焊接连接线连接至数据采集与计算设备。

5.如权利要求4所述的适用于多种环境下测量PCIE卡功耗的装置，其特征在于，数据采集与计算设备连接在电脑上，并运行数据采集软件，数据采集软件界面包括有数据采集开关功能按钮、数据采集时间间隔设置功能按钮、12V及3.3V电路电压下电流电压显示功能框、12V及3.3V电路电压下功耗显示功能框及PCIE卡总功耗显示功能框。

6.如权利要求5所述的适用于多种环境下测量PCIE卡功耗的装置，其特征在于，数据采集软件在系统运行稳定后，重新开启一次再开始采集数据，按照所设定的采集数据的数据采集时间间隔，记录某一时间段内的12V电路及3.3V电路的平均电流、平均功耗、最大电流及最大功耗值，得到IDLE模式下的功耗所需的相关数值。

7.如权利要求5所述的适用于多种环境下测量PCIE卡功耗的装置，其特征在于，在操作系统下运行对应的加压测试软件，数据采集软件在系统运行稳定后，重新开启一次再开始采集数据，按照所设定的采集数据的数据采集时间间隔，记录某一时间段内的12V电路及3.3V电路的平均电流、平均功耗、最大电流及最大功耗值，得到运行加压测试软件下的加压模式下的功耗所需的相关数值，所述操作系统为Windows操作系统或者Linux操作系统，且在Windows操作系统下运行的加压测试软件为Furmark，在Linux操作系统下运行的加压测试软件为CUDA。