[发明专利]基于偏振消光的透明介质单面选择成像方法及其装置在审
| 申请号： | 201711072804.2 | 申请日： | 2017-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN107727668A | 公开（公告）日： | 2018-02-23 |
| 发明（设计）人： | 潘卫清;王亚婷;徐弼军;胡晓武;瞿鹏 | 申请（专利权）人： | 浙江科技学院 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958;G01N21/88 |
| 代理公司： | 杭州新源专利事务所(普通合伙)33234 | 代理人： | 丁海华 |
| 地址： | 310013 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于偏振消光的透明介质单面选择成像方法及其装置，具体包括以下步骤a、在待检测透明介质的一侧设置光源和起偏器，另一侧设置目镜和检偏器；b、在待检测透明介质下方放置一透光垫板；c、光源经起偏器向待检测透明介质上表面射入一入射光线；入射光线在待检测透明介质上表面的反射光线和入射光线的折射光线在待检测透明介质下表面的反射光线经检偏器进入目镜；d、转动检偏器，在目镜中分别仅得到自待检测透明介质上表面的反射光线和自待检测透明介质下表面的反射光线，从而实现待检测透明介质的单面选择成像。本发明可以有效地检测透明介质上、下任意单面的缺陷，且本发明结构简易、成本低廉、操作简单方便。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 偏振 透明 介质 单面 选择 成像 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
基于偏振消光的透明介质单面选择成像方法，其特征在于：包括以下步骤：a、在待检测透明介质的一侧设置光源和起偏器，另一侧设置目镜和检偏器；b、在待检测透明介质下方放置一透光垫板；c、光源经起偏器向待检测透明介质上表面射入一入射光线，入射光线在待检测透明介质上表面的反射光线和入射光线的折射光线在待检测透明介质下表面的反射光线经检偏器进入目镜；d、转动检偏器，在目镜中分别仅得到自待检测透明介质上表面的反射光线和自待检测透明介质下表面的反射光线，从而实现待检测透明介质的单面选择成像。
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