[发明专利]一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备及方法在审
| 申请号： | 201711032750.7 | 申请日： | 2017-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN107782754A | 公开（公告）日： | 2018-03-09 |
| 发明（设计）人： | 张磊 | 申请（专利权）人： | 天津市博智伟业科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300000 天津市河*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备，包括探测器和X射线高压发生器，所述X射线高压发生器通过X射线管将样品产生的X射线通过窗口进入探测器中，探测器的输出端与冷却单元的输入端电性连接，冷却单元的输出端与前置放大器的输入端电性连接；所述前置放大器的输出端与脉冲处理器的输入端电性连接；所述脉冲处理器的输出端与主放大器的输入端电性连接，本发明X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备及方法；首先能量色散X射线荧光光谱法的检测时间非常短，从几秒到几十秒，若有准确结果，一般设定在30‑60秒即可；可做到全部饰品的检测，随检随走，无需等待，对饰品没有任何损伤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 荧光 检测 银饰品 元素 含量 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线荧光检测银饰品中锑元素含量的设备，其特征在于：包括探测器和X射线高压发生器，所述X射线高压发生器通过X射线管将样品产生的X射线通过窗口进入探测器中，探测器的输出端与冷却单元的输入端电性连接，冷却单元的输出端与前置放大器的输入端电性连接；所述前置放大器的输出端与脉冲处理器的输入端电性连接；所述脉冲处理器的输出端与主放大器的输入端电性连接，且主放大器的输出端与多道分析器的输入端电性连接；所述多道分析器的输出端与智能缓冲器的输入端电性连接，且智能缓冲器的输出端与计算机的输入端电性连接。
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