[发明专利]测试智能卡功能的方法、系统、装置及可读存储介质有效
| 申请号： | 201711022405.5 | 申请日： | 2017-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN107797930B | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 刘瀚仁;徐圣;刘攀 | 申请（专利权）人： | 东信和平科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F11/26;G06K19/067 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 519060 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试智能卡功能的方法，包括构造N个功能接口的所有应用场景，其中，N为正整数；确定待测试功能接口的测试场景，在测试场景中输入测试数据，其中，测试场景为待测试功能接口的任意一种应用场景；判断测试场景是否可以输出预期的返回值，若是，调用待测试功能接口，若否，发送报警信息，以便提醒工程师及时修正。本发明减少了测试盲区，全方位的对待测试功能接口进行测试，可以在前期就发现问题，提高了项目质量，进而在一定程度上减少了项目开发周期。本发明还公开了一种测试智能卡功能的系统、装置及可读存储介质，具有上述有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 智能卡 功能 方法 系统 装置 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
一种测试智能卡功能的方法，其特征在于，包括：构造N个功能接口的所有应用场景，其中，N为正整数；确定待测试功能接口的测试场景，在所述测试场景中输入测试数据，其中，所述测试场景为所述待测试功能接口的任意一种应用场景；判断所述测试场景是否可以输出预期的返回值，若是，调用所述待测试功能接口，若否，发送报警信息，以便提醒工程师及时修正。
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