[发明专利]测试智能卡功能的方法、系统、装置及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种测试智能卡功能的方法，包括构造N个功能接口的所有应用场景，其中，N为正整数；确定待测试功能接口的测试场景，在测试场景中输入测试数据，其中，测试场景为待测试功能接口的任意一种应用场景；判断测试场景是否可以输出预期的返回值，若是，调用待测试功能接口，若否，发送报警信息，以便提醒工程师及时修正。本发明减少了测试盲区，全方位的对待测试功能接口进行测试，可以在前期就发现问题，提高了项目质量，进而在一定程度上减少了项目开发周期。本发明还公开了一种测试智能卡功能的系统、装置及可读存储介质，具有上述有益效果。

技术领域

本发明涉及智能卡领域，特别是涉及一种测试智能卡功能的方法、系统、装置及可读存储介质。

背景技术

目前随着金卡工程建设的不断深入发展，智能卡已在众多领域获得广泛应用，并取得了初步的社会效益和经济效益。在智能卡的开发过程中，需要提前对智能卡能实现的功能进行测试，目前针对智能卡功能的测试，一般是在开发后期集成测试阶段进行。但是，集成测试阶段进行联调的功能接口过多，可能无法将某一个功能接口的测试点覆盖全，那么可能导致该功能接口的关键代码部位没进行测试，从而找不到关键问题。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种测试智能卡功能的方法，减少了测试盲区，全方位的对待测试功能接口进行测试，可以在前期就发现问题，提高了项目质量，进而在一定程度上减少了项目开发周期；本发明的另一目的是提供一种测试智能卡功能的系统、装置及可读存储介质。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种测试智能卡功能的方法，包括：

构造N个功能接口的所有应用场景，其中，N为正整数；

确定待测试功能接口的测试场景，在所述测试场景中输入测试数据，其中，所述测试场景为所述待测试功能接口的任意一种应用场景；

判断所述测试场景是否可以输出预期的返回值，若是，调用所述待测试功能接口，若否，发送报警信息，以便提醒工程师及时修正。

优选的，所述构造N个功能接口的所有应用场景的过程具体为：

分别检查每个功能接口的参数和代码覆盖度，并将每个所述功能接口的参数打上TAG标签；

检查用户应用业务场景，并将每个所述应用业务场景打上TAG标签；

通过将所有的所述TAG标签进行排列组合来构造每个所述功能接口的所有应用场景。

优选的，所述构造N个功能接口的所有应用场景之后，确定待测试功能接口的测试场景之前，该方法还包括：

分别对每个功能接口的代码进行代码封装，然后均打上所述TAG标签；

则所述在所述测试场景中输入测试数据的过程具体为：

通过所述待测试功能接口上的TAG标签控制所述待测试功能接口打开，然后在所述测试场景中输入测试数据。

为解决上述技术问题，本发明还提供了一种测试智能卡功能的系统，包括：

构造模块，用于构造N个功能接口的所有应用场景，其中，N为正整数；

确定模块，用于确定待测试功能接口的测试场景，在所述测试场景中输入测试数据，其中，所述测试场景为所述待测试功能接口的任意一种应用场景；

判断模块，用于判断所述测试场景是否可以输出预期的返回值，若是，触发调用模块，若否，触发报警模块；

所述调用模块，用于调用所述待测试功能接口；

所述报警模块，用于发送报警信息。