[发明专利]测试智能卡功能的方法、系统、装置及可读存储介质有效
申请号: | 201711022405.5 | 申请日: | 2017-10-27 |
公开(公告)号: | CN107797930B | 公开(公告)日: | 2021-04-23 |
发明(设计)人: | 刘瀚仁;徐圣;刘攀 | 申请(专利权)人: | 东信和平科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06F11/26;G06K19/067 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 519060 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 智能卡 功能 方法 系统 装置 可读 存储 介质 | ||
1.一种测试智能卡功能的方法,其特征在于,包括:
构造N个功能接口的所有应用场景,其中,N为正整数;
确定待测试功能接口的测试场景,在所述测试场景中输入测试数据,其中,所述测试场景为所述待测试功能接口的任意一种应用场景;
判断所述测试场景是否可以输出预期的返回值,若是,调用所述待测试功能接口,若否,发送报警信息,以便提醒工程师及时修正;
所述构造N个功能接口的所有应用场景的过程具体为:
分别检查每个功能接口的参数和代码覆盖度,并将每个所述功能接口的参数打上接口TAG标签;
检查用户的应用业务场景,并将每个所述应用业务场景打上场景TAG标签;
通过将所有所述接口TAG标签和所有所述场景TAG标签进行排列组合来构造每个所述功能接口的所有应用场景;
所述构造N个功能接口的所有应用场景之后,确定待测试功能接口的测试场景之前,该方法还包括:
分别对每个功能接口的代码进行代码封装,然后均打上封装TAG标签;
则所述在所述测试场景中输入测试数据的过程具体为:
通过所述待测试功能接口上的封装TAG标签控制所述待测试功能接口打开,然后在所述测试场景中输入测试数据。
2.一种测试智能卡功能的系统,其特征在于,包括:
构造模块,用于构造N个功能接口的所有应用场景,其中,N为正整数;
确定模块,用于确定待测试功能接口的测试场景,在所述测试场景中输入测试数据,其中,所述测试场景为所述待测试功能接口的任意一种应用场景;
判断模块,用于判断所述测试场景是否可以输出预期的返回值,若是,触发调用模块,若否,触发报警模块;
所述调用模块,用于调用所述待测试功能接口;
所述报警模块,用于发送报警信息;
所述构造模块具体用于分别检查每个功能接口的参数和代码覆盖度,并将每个所述功能接口的参数打上接口TAG标签;
检查用户的应用业务场景,并将每个所述应用业务场景打上场景TAG标签;
通过将所有所述接口TAG标签和所有所述场景TAG标签进行排列组合来构造每个所述功能接口的所有应用场景;
该系统还包括隔离模块,用于分别对每个功能接口的代码进行代码封装,然后均打上封装TAG标签;
则所述确定模块具体用于通过所述待测试功能接口上的封装TAG标签控制所述待测试功能接口打开,然后在所述测试场景中输入测试数据。
3.一种测试智能卡功能的装置,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1所述测试方法的步骤。
4.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1所述测试方法的步骤。
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