[发明专利]一种高分辨率的时间间隔测量方法有效
| 申请号： | 201711018801.0 | 申请日： | 2017-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN107728460B | 公开（公告）日： | 2019-08-16 |
| 发明（设计）人： | 李智奇;苗苗;朱格格;周渭;薛晨园 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G04F10/04 | 分类号： | G04F10/04 |
| 代理公司： | 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 | 代理人： | 张超 |
| 地址： | 710071 陕西省*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种高分辨率的时间间隔测量方法，包括步骤：1)利用RC微分电路构成的高通滤波器，通过电容充放电实现对待测间隔触发跳变沿的边沿拓展；2)通过高速ADC对跳变沿的触发点处进行数据采集；3)用FPGA作为存储器接收ADC数据采集过程中输出的数据；4)利用ADC同时实现采样和计数功能；5)将FPGA存储的数据输出至MCU进行处理；6)利用边沿拟合算法，对输出的数字量进行拟合，得到跳变沿的触发点处电压和时间的函数关系，计算测量中的计数误差。本发明省去了计数器，简化了电路，实现了宽范围的时间间隔测量。高速ADC采集本质上相当于用采样时钟作脉冲填充，再通过拟合算法，其测量精度可以达到内插的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高分辨率 时间 间隔 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种高分辨率的时间间隔测量方法，包括：步骤1：利用RC微分电路，通过电容充放电实现扩展，其特征在于：所述的步骤1中 ，RC微分电路构成的高通滤波器，对待测间隔触发跳变沿的边沿扩展；还包括：步骤2：通过高速ADC对跳变沿的触发点处进行数据采集；步骤3：用FPGA作为存储器接收高速ADC数据采集过程中输出的数据；步骤4：利用高速ADC同时实现采样和计数功能；步骤5：将FPGA存储的数据输出至MCU进行处理；步骤6：利用边沿拟合算法，对输出的数字量进行拟合，得到跳变沿的触发点处电压和时间的函数关系，从而计算出测量中的计数误差。
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