[发明专利]一种高分辨率的时间间隔测量方法

权利要求书

1.一种高分辨率的时间间隔测量方法，包括：步骤1：利用RC微分电路，通过电容充放电实现扩展，其特征在于：所述的步骤1中 ，RC微分电路构成的高通滤波器，对待测间隔触发跳变沿的边沿扩展；还包括：

步骤2：通过高速ADC对跳变沿的触发点处进行数据采集；

步骤3：用FPGA作为存储器接收高速ADC数据采集过程中输出的数据；

步骤4：利用高速ADC同时实现采样和计数功能；

步骤5：将FPGA存储的数据输出至MCU进行处理；

步骤6：利用边沿拟合算法，对输出的数字量进行拟合，得到跳变沿的触发点处电压和时间的函数关系，从而计算出测量中的计数误差。

2.如权利要求1所述的一种高分辨率的时间间隔测量方法，其特征在于：步骤1-步骤2中，待测信号触发沿的跳变点位于信号上升沿或者下降沿的线性区。

3.如权利要求1所述的一种高分辨率的时间间隔测量方法，其特征在于：步骤3-步骤5中，先用FPGA的高速IO引脚接收ADC输出的数字量，将FPGA作为一个缓存装置对数据进行保存，然后再用速度相对低的MCU对数据进行处理。

4.如权利要求1所述的一种高分辨率的时间间隔测量方法，其特征在于：步骤1中，通过电容充放电实现对待测间隔触发跳变沿的边沿拓展，具体是通过RC高通滤波电路，利用单边的扩展来实现待测间隔触发跳变沿的拓展功能。

5.如权利要求1所述的一种高分辨率的时间间隔测量方法，其特征在于：步骤4中，利用高速ADC同时实现采样和计数功能；具体是使用A/D转换芯片直接对扩展后的信号进行采集，得到一系列与被测信号幅值对应的数字量，根据采集到的数据的特征将待测信号的触发边沿与高电平区分开，从而在触发边沿对数据进行拟合处理而在高电平段对数据进行计数。