[发明专利]硅基高速高响应PIN光电探测器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201710978970.2 申请日: 2017-10-19
公开(公告)号: CN109686805B 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 向勇军;张鎏;黄烈云 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十四研究所
主分类号: H01L31/105 分类号: H01L31/105;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 王海军
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种硅基高速高响应PIN光电探测器及其制作方法,本发明的硅基高速高响应PIN光电探测器包括由下至上依次设置的N电极、N+硅外延层衬底、N++硅埋层、I(N)外延层、二氧化硅钝化层和氮化硅保护层,所述I(N)外延层上部设置有保护环掺杂区,所述保护环掺杂区内设置有P型保护环,所述P型保护环内形成P有源区和P+有源区。本发明的硅基高速高响应PIN光电探测器解决了现有PIN光电探测器具有的光生载流子的扩散时间长,及探测器的响应速度慢的技术问题。本发明的硅基高速高响应PIN光电探测器的制作方法,采用新结构及工艺制作出了硅基高速高响应PIN光电探测器,其响应速度快,响应度高,能满足大面积高速高响应探测系统的需求。
搜索关键词: 高速 响应 pin 光电 探测器 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种硅基高速高响应PIN光电探测器,其特征在于:包括由下至上依次设置的N电极(8)、N+硅外延层衬底(4)、N++硅埋层(10)、I(N)外延层(1)、二氧化硅钝化层(5)和氮化硅保护层(6),所述I(N)外延层(1)上部设置有保护环掺杂区,所述保护环掺杂区内设置有P型保护环(2),采用离子注入工艺和高温硼扩散工艺相结合在所述P型保护环(2)内形成P有源区(3)和P+有源区(9),所述P型保护环(2)正上方刻蚀出有电极孔,所述电极孔内设置有与P型保护环(2)连接的P电极(7)。
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