[发明专利]一种无线收发芯片批量测试装置及其方法有效
| 申请号： | 201710958522.6 | 申请日： | 2017-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN107589366B | 公开（公告）日： | 2023-09-29 |
| 发明（设计）人： | 吴亚军 | 申请（专利权）人： | 江苏钜芯集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 曹祖良 |
| 地址： | 214028 江苏省无锡市新*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种无线收发芯片批量测试装置及其方法，参考芯片U6通过SPI或IIC接口与MCU微处理器U1连接，被测芯片U5通过SPI或IIC接口与MCU微处理器U1连接，且被测芯片U5的LDO端口与MCU微处理器U1的ADC1端口连接，MCU微处理器U1通过电路保护芯片U7分别与继电器U2、U3连接，AD运放芯片U4可通过继电器U2或继电器U3与被测芯片U5的VDD端连接，且AD运放芯片U4的输入端与电阻R的两端连接，同时电阻R的一端接入高电平VCC另一端与继电器U3连接，AD运放芯片U4的输出端与MCU微处理器U1的ADC2端口连接，MCU微处理器U1通过电路保护芯片U8与测试项输出端连接；本发明测试方法简单快捷，稳定性好，测试效率高、准确性好，同时可实现参数显示，满足无线发射芯片的批量测试的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 无线 收发 芯片 批量 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种无线收发芯片批量测试装置，包括MCU微处理器U1、继电器U2和U3、AD运放芯片U4、被测芯片U5及参考芯片U6，其特征在于，所述参考芯片U6通过SPI或IIC接口与MCU微处理器U1连接，所述被测芯片U5通过SPI或IIC接口与MCU微处理器U1连接，且被测芯片U5的LDO端口与MCU微处理器U1的ADC1端口连接，所述MCU微处理器U1通过电路保护芯片U7分别与继电器U2、U3连接，所述AD运放芯片U4可通过继电器U2或继电器U3与被测芯片U5的VDD端连接，且AD运放芯片U4的输入端与电阻R的两端连接，同时电阻R的一端接入高电平VCC另一端与继电器U3连接，AD运放芯片U4的输出端与MCU微处理器U1的ADC2端口连接，MCU微处理器U1通过电路保护芯片U8与测试项输出端连接。
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