[发明专利]一种消除附加质量影响的模态试验方法

摘要

本发明公开了一种消除附加质量影响的模态试验方法，包括以下步骤：S1，对待测结构划分测点；S2，采用移动力锤式模态试验，获得待测结构的某阶模态频率；S3，获得此阶模态振型节点与测点的相对位置关系；S4，更新某一测点，将临近节点的测点移动至与此阶模态节点重合或微小偏差的结构位置上；S5，将传感器和磁力座放置在更新后的测点上，进行移动力锤式模态试验，获得模态频率，消除了附加质量影响；S6，判断S5获得的模态频率是否达到精度，若没达到则以步骤S5测点为基础，重复S2‑S5直到获得的模态频率达到要求精度。本发明可有效降低模态试验中接触传感器及磁力座对结构原始模态的影响。

主权项

1.一种消除附加质量影响的模态试验方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，对待测结构进行测点划分；S2，将附加质量放置于待测结构的任一测点，采用移动力锤式锤击模态试验方法，运用LMS数据采集仪和模态分析软件获得待测结构某一阶模态频率和模态振型；S3，依据步骤S2得到的某阶模态的模态振型，获得此阶模态的模态振型节点以及振型节点与测点的位置关系；S4，更新测点中的某一个测点，将临近此阶模态任一节点的测点移动至与此节点重合或与此节点微小偏差的待测结构位置上，并更新LMS数据采集仪中待测结构的有限元模型的测点；S5，将附加质量放置在更新后的测点上，进行移动力锤式模态试验，采用LMS数据采集仪和模态分析软件获得此阶模态频率，得到消除附加质量影响的模态频率；S6，判断步骤S5获得的模态频率是否满足要求，若不满足则以步骤S5的测点为基础，重复步骤S2‑S5直到获得达到精度要求的模态频率。