[发明专利]一种鉴别铜片晶界和晶面的方法在审

专利信息
申请号: 201710950998.5 申请日: 2017-10-13
公开(公告)号: CN109668839A 公开(公告)日: 2019-04-23
发明(设计)人: 武斌;张家宁;刘云圻 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N23/203;G01N1/32;G01N1/44
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 关畅;赵静
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种简单、高效、易行的方法来辨别铜片表面上的晶界和(111)、(110)、(100)三种晶面。该方法是将待鉴定的铜在空气中进行加热氧化,结束后置于光学显微镜下进行观察,根据不同颜色的交界区域判断其晶界位置,根据颜色信息判断其晶面指数。晶面氧化速度顺序为(100)面>(110)面>(111)面,而晶面颜色随时间变化顺序为浅黄—橙黄—红色—粉色—白色—黄色。与传统电子背散射衍射分析相比,本发明操作简便,节省时间,精确度高,对设备、空间要求很低,通常条件即可完成。
搜索关键词: 晶界 晶面 光学显微镜 随时间变化 传统电子 加热氧化 交界区域 晶界位置 晶面指数 空间要求 速度顺序 铜片表面 颜色信息 背散射 对设备 粉色 铜片 衍射 种晶 辨别 鉴别 观察 分析
【主权项】:
1.一种鉴别铜表面晶界和晶面的方法,是将待鉴定的铜在空气中进行加热氧化,结束后置于光学显微镜下进行观察,根据不同颜色的交界区域判断其晶界位置,根据颜色信息判断其晶面指数。
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