[发明专利]一种鉴别铜片晶界和晶面的方法在审
申请号: | 201710950998.5 | 申请日: | 2017-10-13 |
公开(公告)号: | CN109668839A | 公开(公告)日: | 2019-04-23 |
发明(设计)人: | 武斌;张家宁;刘云圻 | 申请(专利权)人: | 中国科学院化学研究所 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01N23/203;G01N1/32;G01N1/44 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 关畅;赵静 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种简单、高效、易行的方法来辨别铜片表面上的晶界和(111)、(110)、(100)三种晶面。该方法是将待鉴定的铜在空气中进行加热氧化,结束后置于光学显微镜下进行观察,根据不同颜色的交界区域判断其晶界位置,根据颜色信息判断其晶面指数。晶面氧化速度顺序为(100)面>(110)面>(111)面,而晶面颜色随时间变化顺序为浅黄—橙黄—红色—粉色—白色—黄色。与传统电子背散射衍射分析相比,本发明操作简便,节省时间,精确度高,对设备、空间要求很低,通常条件即可完成。 | ||
搜索关键词: | 晶界 晶面 光学显微镜 随时间变化 传统电子 加热氧化 交界区域 晶界位置 晶面指数 空间要求 速度顺序 铜片表面 颜色信息 背散射 对设备 粉色 铜片 衍射 种晶 辨别 鉴别 观察 分析 | ||
【主权项】:
1.一种鉴别铜表面晶界和晶面的方法,是将待鉴定的铜在空气中进行加热氧化,结束后置于光学显微镜下进行观察,根据不同颜色的交界区域判断其晶界位置,根据颜色信息判断其晶面指数。
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