[发明专利]一种目标检测方法及系统在审
申请号: | 201710854585.7 | 申请日: | 2017-09-20 |
公开(公告)号: | CN107545270A | 公开(公告)日: | 2018-01-05 |
发明(设计)人: | 娄玉强;蒋华涛;常琳;李庆;陈大鹏;薛静 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G06K9/46 | 分类号: | G06K9/46;G06K9/62 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种目标检测方法及系统,该方法包括获取待检测图像,确定待检测图像中的待检测目标;对待检测图像进行预处理,得到光照与旋转不变特征;将光照与旋转不变特征输入至与待检测目标对应的目标检测分类器进行目标检测。本发明通过局部敏感直方图提取光照不变特征,可以有效减少光照对目标检测的影响,一定程度上提高了检测率;然后基于傅里叶HOG算法提取旋转不变特征,得到光照与旋转不变特征,解决了存在目标多姿态条件下检测准确率下降的问题,具有很好的鲁棒性,减少光照与姿态对目标检测的影响,提高了目标检测正确率,扩大检测器检测范围。 | ||
搜索关键词: | 一种 目标 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种目标检测方法,其特征在于:预先对样本图像进行训练,得到目标检测分类器,该方法包括:获取所述待检测图像,确定所述待检测图像中的待检测目标;对所述待检测图像进行预处理,得到光照与旋转不变特征;将所述光照与旋转不变特征输入至与所述待检测目标对应的所述目标检测分类器进行目标检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710854585.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种倒角研磨机
- 下一篇:一种手机壳表面打磨加工装置