[发明专利]海底原位X荧光测量影响监管方法及装置有效
| 申请号： | 201710789900.2 | 申请日： | 2017-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN107589130B | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 王广西;葛良全;李丹;赖万昌;胡燕;翟娟;杨强;张庆贤;谷懿;郭成 | 申请（专利权）人： | 成都理工大学 |
| 主分类号： | G01N23/083 | 分类号： | G01N23/083;G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 苏胜 |
| 地址： | 610051 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种海底原位X荧光测量影响监管方法及装置。所述方法包括：建立蒙特卡罗模型，通过蒙特卡罗模型模拟获得目标元素特征X射线在不含杂质且不同厚度铍窗下的透过率；根据该透过率并结合铍窗安全性理论分析结果确定铍窗的优选厚度；通过蒙特卡罗模型模拟分别获得铍窗厚度为所述优选厚度且含杂质，以及铍窗厚度为所述优选厚度且不含杂质时，目标元素特征X射线强度与目标元素含量的关系，并进行对比，得到对比结果；根据该对比结果判断铍窗含杂质时对目标元素特征X射线强度是否有影响，若有，则对铍窗含杂质时目标元素特征X射线强度进行校正。本发明实施例提供的海底原位X荧光测量影响监管方法，有效地提高了测量结果的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 海底 原位 荧光 测量 影响 监管 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种海底原位X荧光测量影响监管方法，应用于海底原位X荧光测量设备，其特征在于，所述方法包括：建立蒙特卡罗模型，通过蒙特卡罗模型模拟获得目标元素特征X射线在不含杂质且不同厚度铍窗下的透过率；根据该透过率并结合铍窗安全性理论分析结果确定铍窗的优选厚度；通过蒙特卡罗模型模拟分别获得铍窗厚度为所述优选厚度且含杂质，以及铍窗厚度为所述优选厚度且不含杂质时，目标元素特征X射线强度与目标元素含量的关系，并进行对比，得到对比结果；根据该对比结果判断铍窗含杂质时对目标元素特征X射线强度是否有影响，若有，则对铍窗含杂质时目标元素特征X射线强度进行校正。
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