[发明专利]超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量装置和测量方法有效
申请号: | 201710786650.7 | 申请日: | 2017-09-04 |
公开(公告)号: | CN107727249B | 公开(公告)日: | 2019-05-17 |
发明(设计)人: | 吴分翔;许毅;冷雨欣 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量装置和测量方法,装置包括:沿待测超强超短激光脉冲入射方向依次放置的凹面镜、凸面镜、柱面镜、第一反射镜、延迟线、第二反射镜、二阶自相关仪和示波器。待测超强超短激光脉冲首先被由凹面镜和凸面镜组成的缩束系统缩束,缩束后的光束再被柱面镜在竖直方向上一维聚焦,聚焦光束分别通过第一反射镜、延迟线、第二反射镜,最后垂直射入二阶自相关仪,然后通过调节延迟线的高精度平移台使得聚焦光束的一维焦线正好落于二阶自相关仪的倍频晶体上,最后通过示波器获得待测脉冲的远场脉宽。本发明首次实现了高峰值功率激光系统输出超强超短激光脉冲远场脉宽的单发直接测量,具有调节方便、灵活高效和实用性强的特点。 | ||
搜索关键词: | 超强 超短 激光 脉冲 远场脉宽 单发 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量装置,其特征在于该装置包括:沿待测超强超短激光脉冲入射方向依次放置的凹面镜(1)、凸面镜(2)、柱面镜(3)、第一反射镜(4)、延迟线(5)、第二反射镜(6)、二阶自相关仪(7)和示波器(8),所述的凹面镜(1)和凸面镜(2)组成反射式缩束系统,所述的柱面镜(3)是在竖直方向上形成一维聚焦的凹圆柱面的长焦距的柱面镜,所述的延迟线(5)置于一高精度平移台上,所述的待测超强超短激光脉冲首先由所述的反射式缩束系统缩束,再经所述的柱面镜(3)在竖直方向上形成一维聚焦光束,该聚焦光束依次通过所述的第一反射镜(4)、延迟线(5)、第二反射镜(6),最后垂直射入所述的二阶自相关仪(7),且一维聚焦光束的一维焦线落在所述的二阶自相关仪(7)的倍频晶体上,所述的二阶自相关仪(7)的输出端与所述的示波器(8)的输入端相连。
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