[发明专利]基于一维线结构光的三维测量系统标定装置及方法有效

专利信息
申请号: 201710757544.6 申请日: 2017-08-29
公开(公告)号: CN109425292B 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 杨迪;乔大勇;宋秀敏 申请(专利权)人: 西安知微传感技术有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 汪海艳
地址: 710077 陕西省西安市高新区*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于一维线结构光的三维测量系统标定装置及方法,包括遮光板台,投影仪台,底座,遮光板和投影光接收板。可以将一维线结构光图案变为二维阵列图案。使用步骤包括:使用一维线结构光投影仪投射编制好的结构光,并调整好角度和位置以保证垂直关系;选择合适的位置固定遮光板;使用遮光板对投射光进行遮挡,使遮挡后的投影图案符合使用要求;获得举行阵列图案后介绍了后续的标定过程。该发明很好的降低了一维线结构光投影设备的标定难度,提高了标定效率。
搜索关键词: 基于 一维线 结构 三维 测量 系统 标定 装置 方法
【主权项】:
1.一种基于一维线结构光的三维测量系统标定装置,其特征在于:包括遮光板,一维线结构光投影设备与遮光板的角度、位置均可调;所述遮光板与一维线结构光投影设备中心光轴线垂直;所述遮光板包括遮光区域与透光区域;调整一维线结构光投影设备投影出N条条纹光至遮光板,出射光通过遮光板,获得二维图案,所述N为大于等于1的正整数。
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