[发明专利]一种IGBT器件的测试电路及测试方法有效
| 申请号： | 201710756098.7 | 申请日： | 2017-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN107765160B | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 王鹏;李金元;李尧圣;崔梅婷;吴鹏飞;陈中圆;张雷 | 申请（专利权）人： | 全球能源互联网研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 马永芬 |
| 地址： | 102209 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种IGBT器件的测试电路及测试方法，其中，测试电路包括电流源(1)、电感(2)、第一开关(3)、第一电压源(4)、待测IGBT器件(5)、第一吸收电路(6)和过电压限制装置(7)，其中：电流源(1)的正极通过电感(2)连接第一开关(3)的一端，第一开关(3)另一端连接待测IGBT器件(5)的集电极；第一电压源(4)的正极连接待测IGBT器件(5)的栅极，第一电压源(4)的负极连接电流源(1)的负极；待测IGBT器件(5)的发射极连接电流源(1)的负极；第一吸收电路(6)与过电压限制装置(7)并联在待测IGBT器件(5)的集电极和发射极之间。这种IGBT器件的测试电路所需要的测试设备成本低、体积小及测试操作可靠性高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 igbt 器件 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种IGBT器件的测试电路，其特征在于，包括电流源(1)、电感(2)、第一开关(3)、第一电压源(4)、待测IGBT器件(5)、第一吸收电路(6)、和过电压限制装置(7)，其中：所述电流源(1)的正极通过所述电感(2)连接所述第一开关(3)的一端，所述第一开关(3)另一端连接所述待测IGBT器件(5)的集电极；所述第一电压源(4)的正极连接所述待测IGBT器件(5)的栅极，所述第一电压源(4)的负极连接所述电流源(1)的负极；所述待测IGBT器件(5)的发射极连接所述电流源(1)的负极；所述第一吸收电路(6)与所述过电压限制装置(7)并联在所述待测IGBT器件(5)的集电极和发射极之间。
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