[发明专利]OLED像素结构及其修复方法有效

专利信息
申请号: 201710745225.3 申请日: 2017-08-25
公开(公告)号: CN107565054B 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 韩佰祥 申请(专利权)人: 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: H01L51/52 分类号: H01L51/52;H01L51/56;H01L27/32
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂;刘巍
地址: 518132 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种OLED像素结构及其修复方法。该OLED像素结构包括:每个子像素的阳极设有作为正常像素驱动输入点的第一引出点,以及作为修复接入点的第二引出点;对应于多个子像素的阳极的第二引出点,在垂直方向设有至少一金属层走线。该修复方法包括:步骤S1、在该缺陷点的第一引出点处切断该缺陷点的阳极;步骤S2、将该缺陷点的第二引出点与金属层走线熔接,将与该缺陷点相邻的同色子像素的第二引出点与金属层走线熔接;步骤S3、在熔接位置切断该金属层走线,保持该金属层走线连接该缺陷点与相邻的同色子像素的部分连通。本发明的OLED像素结构及其修复方法采用了一种特殊的阳极设计方式,可以方便将由制程导致的亮暗点修复成可控点,提升产品品质。
搜索关键词: oled 像素 结构 及其 修复 方法
【主权项】:
一种OLED像素结构,其特征在于,包括:每个子像素的阳极设有作为正常像素驱动输入点的第一引出点,以及作为修复接入点的第二引出点;对应于多个子像素的阳极的第二引出点,在垂直方向设有至少一金属层走线。
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