[发明专利]存储单元、器件、存储单元阵列及其操作方法有效

专利信息
申请号: 201710726725.2 申请日: 2017-08-23
公开(公告)号: CN109427839B 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: 曹恒;仇圣棻 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;G11C13/00
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 张海强
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请公开了一种存储单元、器件、存储单元阵列及其操作方法,涉及存储器技术领域。存储单元包括:第一二极管、与第一二极管间隔开的第二二极管、底电极、顶电极以及位于底电极和顶电极之间的数据存储材料层。第一二极管包括:在衬底中的第一阱区;第一N型掺杂区,与第一阱区邻接且连接至位线;以及第一P型掺杂区,与第一阱区邻接且与第一N型掺杂区间隔开。第二二极管包括:在衬底中的第二阱区,与第一阱区的导电类型相同;第二N型掺杂区,与第二阱区邻接;以及第二P型掺杂区,与第二阱区邻接且连接至复位线,并且与第二N型掺杂区间隔开。底电极分别连接至第一P型掺杂区和第二N型掺杂区。顶电极连接至字线。本申请能够增大置位电流和复位电流。
搜索关键词: 存储 单元 器件 阵列 及其 操作方法
【主权项】:
1.一种存储单元,其特征在于,包括:第一二极管,包括:在衬底中的第一阱区;第一N型掺杂区,与所述第一阱区邻接且连接至位线;以及第一P型掺杂区,与所述第一阱区邻接且与所述第一N型掺杂区间隔开;第二二极管,与所述第一二极管间隔开,包括:在所述衬底中的第二阱区,与所述第一阱区的导电类型相同;第二N型掺杂区,与所述第二阱区邻接;以及第二P型掺杂区,与所述第二阱区邻接且连接至复位线,并且与所述第二N型掺杂区间隔开;底电极,分别连接至所述第一P型掺杂区和所述第二N型掺杂区;顶电极,连接至字线;以及数据存储材料层,位于所述底电极和所述顶电极之间。
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