[发明专利]一种用适配体调控纳米二氧化硅活性‑吸收光谱测定Hg2+的方法

摘要

本发明公开了一种用适配体调控纳米二氧化硅活性‑吸收光谱测定Hg2+的方法，其特征是，包括如下步骤（1）制备已知浓度的Hg2+标准溶液体系，测定其吸光度值为A；（2）制备空白对照溶液体系，测定其吸光度值为A0；（3）计算ΔA=A‑A0；（4）以ΔA对Hg2+的浓度关系做工作曲线；（5）制备被测样品溶液，测定其吸光度值为A样品，计算ΔA样品=A样品‑A0；（6）依据步骤（4）的工作曲线，计算出样品溶液Hg2+的含量。本发明与已有的方法相比，本测定方法不需要构建适配体纳米探针的复杂过程，方法更简便、快速；非金属纳米酶催化，灵敏度高，体系更稳定。

主权项

一种用适配体调控纳米二氧化硅活性‑吸收光谱测定Hg2+的方法，其特征是，包括如下步骤：(1)制备已知浓度的Hg2+标准溶液体系：于刻度试管中，依次加入10μL‑200μL 100nmol/L的Hg2+标准溶液、50μL‑120μL 66ng/mL汞适配体(序列为5’‑TTTCTTCTTTCTTCCCCCCTTGTTTGTTGTTT‑3’)和10μL‑20μL 100μg/mL二氧化硅，混匀，静置10分钟；然后在各试管中依次加入100μL‑200μL 0.5moL/L葡萄糖、100μL‑180μL 0.01moL/L HCl和100μL‑120μL 84μmoL/L HAuCl4，混匀，用二次蒸馏水定容至1.5mL，75℃水浴反应20分钟，取出试管，用冰水冷却终止反应，用二次蒸馏水定容至2.0mL；(2)制备空白对照溶液体系：用步骤(1)的方法不加Hg2+标准溶液制备空白对照溶液体系；(3)分别取按步骤(1)、(2)制备的Hg2+标准溶液体系及空白对照溶液体系倾入比色皿中，在分光光度计上，设定仪器参数狭缝为5nm，扫描获得体系的吸收光谱，测定580nm处的吸光度值为A，同时测定空白对照溶液体系的吸光度值为A0，计算ΔA＝A‑A0；(4)以ΔA对Hg2+的浓度关系做工作曲线；(5)依照步骤(1)的方法制备样品溶液，其中加入的Hg2+标准溶液替换为样品溶液，并按步骤(3)的方法测定样品溶液的吸光度值为A样品，计算ΔA样品＝A样品‑A0；(6)依据步骤(4)的工作曲线，计算出样品溶液Hg2+的含量。