[发明专利]一种单个测试芯片实现多个IP芯片测试的方法在审
| 申请号： | 201710640096.1 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN107271888A | 公开（公告）日： | 2017-10-20 |
| 发明（设计）人： | 武建宏 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人： | 智云 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种单个测试芯片实现多个IP芯片测试的方法，包括下列步骤根据MPW中位置固定测试芯片的面积与各个管脚的坐标；将测试芯片各个管脚连接不同的被测IP芯片；按照预设的顺序对指定的IP芯片进行测试评价；当完成一个IP芯片测试评价后，对当前IP芯片连接的管脚进行断开连接；按照预设的顺序对下一个指定的IP芯片进行测试评价。本发明提出一种单个测试芯片实现多个IP芯片测试的方法，节省IP芯片评价中流片与评价成本、以及MPW生产中的面积以及探针卡成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 单个 测试 芯片 实现 ip 方法 | ||
【主权项】：
一种单个测试芯片实现多个IP芯片测试的方法，其特征在于，包括下列步骤：根据MPW中位置固定测试芯片的面积与各个管脚的坐标；将测试芯片各个管脚连接不同的被测IP芯片；按照预设的顺序对指定的IP芯片进行测试评价；当完成一个IP芯片测试评价后，对当前IP芯片连接的管脚进行断开连接；按照预设的顺序对下一个指定的IP芯片进行测试评价。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力微电子有限公司，未经上海华力微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710640096.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种二合一智能卡测试仪及测试系统
- 下一篇：一种远程控制测试板上电装置
