[发明专利]基因测序芯片及其测序方法以及基因测序装置有效
| 申请号： | 201710639963.X | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN107402199B | 公开（公告）日： | 2019-09-10 |
| 发明（设计）人： | 庞凤春;车春城;薛海林;邵喜斌;蔡佩芝 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 焦玉恒 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种基因测序芯片及其测序方法以及基因测序装置。该基因测序芯片包括：第一基板，具有第一表面；至少一个凹陷部，从第一表面凹入第一基板；石墨烯氧化物层，设置在凹陷部的底部；以及与石墨烯氧化物层电性相连的第一电极和第二电极。凹陷部用于放置待测样品，第一电极和第二电极可检测石墨烯氧化物层的电阻。由此，该基因测序芯片可简化测序过程，减少测序时间，提高测序效率。并且，使用该基因测序芯片进行基因测序时，无需额外的CCD图像传感器等摄像装置，从而还可降低测序成本。 | ||
| 搜索关键词： | 基因 芯片 及其 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基因测序芯片，包括：第一基板，具有第一表面；至少一个凹陷部，从所述第一表面凹入所述第一基板；石墨烯氧化物层，设置在所述凹陷部的底部；以及第一电极和第二电极，与所述石墨烯氧化物层电性相连，其中，所述凹陷部被配置为放置待测样品，所述第一电极和所述第二电极被配置为检测所述石墨烯氧化物层的电阻，所述至少一个凹陷部包括多个所述凹陷部，所述多个凹陷部呈阵列设置，同一列的所述凹陷部中的所述石墨烯氧化物层共用一个所述第一电极，所述的基因测序芯片还包括：第三电极，与同一行的所述凹陷部中的所述石墨烯氧化物层电性相连。
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