[发明专利]基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统有效

专利信息
申请号: 201710637827.7 申请日: 2017-07-31
公开(公告)号: CN107389236B 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: 欧阳;吴建军;何振;张宇;李健;何兆福 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科学技术大学
主分类号: G01L1/24 分类号: G01L1/24
代理公司: 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人: 陆薇薇
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供一种基于斯托克斯参数测量的电推进领域微推力瞬态测量系统,通过非接触式测量,无需在结构物上直接安装传感器或其他测量装置,可以降低机械振动、供电线缆对推力测量的干扰,解决目前常用微推力和微冲量测量装置存在的零点漂移、平衡位置不稳定、标定困难以及精度低等问题。
搜索关键词: 微推力 瞬态测量系统 参数测量 电推进 微冲量测量装置 非接触式测量 测量装置 供电线缆 机械振动 零点漂移 平衡位置 推力测量 直接安装 结构物 传感器 标定
【主权项】:
1.一种微推力瞬态测量光路,其特征在于,包括:激光光源、包含光弹性元件用于产生所述微推力的测力装置和拆分光路,所述激光光源与所述光弹性元件光连接,所述光弹性元件与所述拆分光路光连接;所述拆分光路包括分束光路、第一光路、第二光路、第三光路和第四光路,所述分束光路包括依序光连接的第一分束镜BS11、第二分束镜BS21、第三分束镜BS31和第四分束镜BS41,所述第一分束镜BS11分束后分别与所述第二分束镜BS21和所述第一光路光连接;所述第二分束镜BS21分束后分别与所述第三分束镜BS31和所述第二光路光连接;所述第三分束镜BS31分束后分别与所述第四分束镜BS31和所述第三光路光连接;所述第四分束镜BS41分束后分别与所述第四光路光连接;所述第一光路包括与所述第一分束镜BS11相连接的分束镜BS12、方位角为0°的偏振片P1、方位角为45°的偏振片P2和透镜L、光电探测器D1和光电探测器D2,所述分束镜BS12分束后分别与偏振片P1、偏振片P2光连接,所述偏振片P1与所述光电探测器D1经过所述透镜L光连接,所述偏振片P2与所述光电探测器D2经过所述透镜L光连接;所述第二光路包括分束镜BS22、方位角为90°的偏振片P3、方位角为135°的偏振片P4、透镜L、光电探测器D3和光电探测器D4,所述分束镜BS22分束后分别与偏振片P3、偏振片P4光连接,所述偏振片P3与所述光电探测器D3经过所述透镜L光连接,所述偏振片P4与所述光电探测器D4经过所述透镜L光连接;所述第三光路包括分束镜BS32、方位角为0°的偏振片P5、方位角为45°的偏振片P6、透镜L、光电探测器D5和光电探测器D6,所述分束镜BS32分束后分别与偏振片P5、偏振片P6光连接,所述偏振片P5与所述光电探测器D5经过所述透镜L光连接,所述偏振片P6与所述光电探测器D6经过所述透镜L光连接;所述第四光路包括方位角为90°的偏振片P7、方位角为135°的偏振片P8、透镜L、光电探测器D7和光电探测器D8,所述第四分束镜BS41分束后分别与偏振片P7、偏振片P8光连接,所述偏振片P7与所述光电探测器D7经过所述透镜L光连接,所述偏振片P8与所述光电探测器D8经过所述透镜L光连接。
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