[发明专利]一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置及检测方法在审

专利信息
申请号: 201710582300.9 申请日: 2017-07-17
公开(公告)号: CN107369740A 公开(公告)日: 2017-11-21
发明(设计)人: 毛秦军;杨广;杨鹏 申请(专利权)人: 苏州天准科技股份有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L21/66
代理公司: 苏州国诚专利代理有限公司32293 代理人: 杨淑霞
地址: 215163 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置,其检测的隐裂检出率达到95%以上,使得后续组装的光伏组件的成品质量稳定。其包括红外相机、红外光源,其还包括底部挡板,红外相机的镜头布置于所述底部挡板的正上方,红外光源位于所述红外相机的一侧布置,红外光源斜向布置,所述红外光源和所述红外相机的镜头中垂线成角为α,α的取值范围为12°~20°,镜头的镜头中垂线和待检测太阳能硅片的上表面的交点设定为交点A,红外光源的入射光线和待检测太阳能硅片的上表面的交点B位于交点A的一侧布置,其还包括表面挡板,表面挡板垂直于所述待检测太阳能硅片的上表面布置,所述表面挡板布置于交点A和交点B之间所形成的区域内。
搜索关键词: 一种 用于 检测 太阳能 硅片 光学 装置 方法
【主权项】:
一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置,其特征在于:其包括红外相机、红外光源,其还包括底部挡板,所述红外相机的镜头布置于所述底部挡板的正上方,所述红外光源位于所述红外相机的一侧布置,所述红外光源斜向布置,所述红外光源和所述红外相机的镜头中垂线成角为α,所述α的取值范围为12°~20°,所述镜头的镜头中垂线和待检测太阳能硅片的上表面的交点设定为交点A,所述红外光源的入射光线和待检测太阳能硅片的上表面的交点B位于交点A的一侧布置,其还包括表面挡板,表面挡板垂直于所述待检测太阳能硅片的上表面布置,所述表面挡板布置于交点A和交点B之间所形成的区域内,所述红外相机具体为1K大像元、大靶面的红外线阵相机,所述红外光源具体为1300nm波长的大功率LED红外光源。
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