[发明专利]一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置及检测方法在审
申请号: | 201710582300.9 | 申请日: | 2017-07-17 |
公开(公告)号: | CN107369740A | 公开(公告)日: | 2017-11-21 |
发明(设计)人: | 毛秦军;杨广;杨鹏 | 申请(专利权)人: | 苏州天准科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/66 |
代理公司: | 苏州国诚专利代理有限公司32293 | 代理人: | 杨淑霞 |
地址: | 215163 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置,其检测的隐裂检出率达到95%以上,使得后续组装的光伏组件的成品质量稳定。其包括红外相机、红外光源,其还包括底部挡板,红外相机的镜头布置于所述底部挡板的正上方,红外光源位于所述红外相机的一侧布置,红外光源斜向布置,所述红外光源和所述红外相机的镜头中垂线成角为α,α的取值范围为12°~20°,镜头的镜头中垂线和待检测太阳能硅片的上表面的交点设定为交点A,红外光源的入射光线和待检测太阳能硅片的上表面的交点B位于交点A的一侧布置,其还包括表面挡板,表面挡板垂直于所述待检测太阳能硅片的上表面布置,所述表面挡板布置于交点A和交点B之间所形成的区域内。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 检测 太阳能 硅片 光学 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种用于检测太阳能硅片隐裂的光学检测装置,其特征在于:其包括红外相机、红外光源,其还包括底部挡板,所述红外相机的镜头布置于所述底部挡板的正上方,所述红外光源位于所述红外相机的一侧布置,所述红外光源斜向布置,所述红外光源和所述红外相机的镜头中垂线成角为α,所述α的取值范围为12°~20°,所述镜头的镜头中垂线和待检测太阳能硅片的上表面的交点设定为交点A,所述红外光源的入射光线和待检测太阳能硅片的上表面的交点B位于交点A的一侧布置,其还包括表面挡板,表面挡板垂直于所述待检测太阳能硅片的上表面布置,所述表面挡板布置于交点A和交点B之间所形成的区域内,所述红外相机具体为1K大像元、大靶面的红外线阵相机,所述红外光源具体为1300nm波长的大功率LED红外光源。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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