[发明专利]磁阻效应元件及其制造方法、以及位置检测装置有效

专利信息
申请号: 201710575333.0 申请日: 2017-07-14
公开(公告)号: CN107894575B 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 太田尚城 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: G01R33/09 分类号: G01R33/09;H01L43/08;H01L43/12
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦;陈明霞
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种磁阻效应元件,该磁阻效应元件具备排列成阵列状的多个磁阻效应层叠体和将多个磁阻效应层叠体串联电连接的多个引线电极,电连接于多个磁阻效应层叠体中的第一磁阻效应层叠体的层叠方向上的第一面的第一引线电极和电连接于在串联方向邻接的第二磁阻效应层叠体的层叠方向上的第一面的第二引线电极以不使磁阻效应层叠体介于它们之间的方式电连接。
搜索关键词: 磁阻 效应 元件 及其 制造 方法 以及 位置 检测 装置
【主权项】:
一种磁阻效应元件,其特征在于,具备:排列成阵列状的多个磁阻效应层叠体;和将所述多个磁阻效应层叠体电连接且串联连接的多个引线电极,所述多个磁阻效应层叠体包含第一磁阻效应层叠体和在所述第一磁阻效应层叠体的串联方向上邻接的第二磁阻效应层叠体,所述多个引线电极包含第一引线电极和第二引线电极,所述第一引线电极电连接于所述第一磁阻效应层叠体的层叠方向上的第一面,所述第二引线电极电连接于所述第二磁阻效应层叠体的层叠方向上的第一面并且与所述第一引线电极实质上位于同一平面上,所述第一引线电极和所述第二引线电极以不使所述磁阻效应层叠体介于它们之间的方式电连接。
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