[发明专利]变频器中IGBT性能的检测方法

摘要

本发明公开了一种变频器中IGBT性能的检测方法，属于变频器检测领域。该方法包括将IGBT设置为测试状态；设置UVW三相状态；设置测试电流，获取U相的电流V相的电流以及W相的电流；检测U相的电流V相的电流以及W相的电流是否满足预定条件，预定条件为存在电流值相等的两相且电流值相等的两相的电流值之和的绝对值等于剩余一相的电流值的绝对值；若检测到U相的电流V相的电流以及W相的电流满足预定条件，执行设置UVW三相状态的步骤；若检测到U相的电流V相的电流以及W相的电流不满足预定条件则确定IGBT的性能不佳；解决人工检测IGBT的性能导致检测效率低的问题；达到降低检测的复杂度、提高检测效率的效果。

主权项

一种变频器中IGBT性能的检测方法，其特征在于，所述方法包括：将所述IGBT设置为测试状态；设置UVW三相状态，所述UVW三相状态包括U相的上臂和下臂的开启状态、V相的上臂和下臂的开启状态、W相的上臂和下臂的开启状态；设置测试电流，获取所述U相的电流、所述V相的电流以及所述W相的电流；检测所述U相的电流、所述V相的电流以及所述W相的电流是否满足预定条件，所述预定条件为存在电流值相等的两相且所述电流值相等的两相的电流值之和的绝对值等于剩余一相的电流值的绝对值；若检测到所述U相的电流、所述V相的电流以及所述W相的电流满足所述预定条件，则执行所述设置UVW三相状态的步骤，每次设置的UVW三相状态不同；若检测到所述U相的电流、所述V相的电流以及所述W相的电流不满足所述预定条件，则确定所述IGBT的性能不佳；若在每一种所述UVW三相状态下，均检测到所述U相的电流、所述V相的电流以及所述W相的电流满足所述预定条件，则确定所述IGBT的性能良好。