[发明专利]一种电磁屏蔽效能测试系统及其改善屏蔽效能的测试方法在审

专利信息
申请号: 201710532835.5 申请日: 2017-07-03
公开(公告)号: CN107462775A 公开(公告)日: 2017-12-12
发明(设计)人: 应小俊;石国昌;许勇刚;廖意;张元;宋诚 申请(专利权)人: 上海无线电设备研究所
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙)31249 代理人: 朱成之
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种电磁屏蔽效能测试系统及其改善屏蔽效能的测试方法,电磁屏蔽效能测试系统包含屏蔽暗室以及设置在屏蔽暗室内的金属平板、信号源、发射天线、接收天线和接收机。采用金属平板代替小型屏蔽室,并调节金属平板在屏蔽暗室底面上的投影与屏蔽暗室的底面长边之间具有角度θ。本发明配置更简单,操作更便捷,克服了屏蔽暗室中电磁波反射叠加的缺陷,有效提高了测试精度。
搜索关键词: 一种 电磁 屏蔽 效能 测试 系统 及其 改善 方法
【主权项】:
一种电磁屏蔽效能测试系统,其特征在于,包含:屏蔽暗室;金属平板,其设置在屏蔽暗室中,该金属平板接触且垂直于屏蔽暗室的底面,该金属平板在屏蔽暗室底面上的投影与屏蔽暗室的底面长边之间具有角度θ,该金属平板上具有测试窗,测试窗上设置有电磁材料网;信号源,其设置在屏蔽暗室中;发射天线,其设置在屏蔽暗室中,通过线缆连接信号源,该发射天线垂直于金属平板;接收天线,其设置在屏蔽暗室中,该接收天线垂直于金属平板;接收机,其设置在屏蔽暗室中,通过线缆连接接收天线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海无线电设备研究所,未经上海无线电设备研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710532835.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top