[发明专利]一种电磁屏蔽效能测试系统及其改善屏蔽效能的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及无线通信中的电磁兼容设计领域，尤其涉及一种电磁屏蔽效能测试系统及其改善屏蔽效能的测试方法。

背景技术

电磁屏蔽效能是设备系统的重要性能之一，特别是在复杂的电磁环境下，良好的屏蔽效果可以抑制强电磁干扰对设备系统的不利影响。根据电磁屏蔽效能的基本定义，通过比较有无电磁屏蔽体的场强来确定屏蔽效能。

电磁屏蔽效能测试通常会选择在较为干净电磁环境下进行，以减少外界环境对测试的影响。常见的电磁屏蔽效能测试环境包括屏蔽室、屏蔽半暗室、屏蔽全暗室等。如图1所示，设置在屏蔽室内的测试设备通常包含：发射设备、发射天线、以及设置在小型屏蔽室内的接收天线和接收设备。由于在屏蔽暗室内通常会有电磁波的发射，导致在接收天线处测得的电磁场是各种反射波的叠加，与电磁屏蔽效能基本定义要求的环境有偏差，导致测试结果无法满足要求。

发明内容

本发明提供一种电磁屏蔽效能测试系统及其改善屏蔽效能的测试方法，采用金属平板代替小型屏蔽室，配置更简单，操作更便捷，通过调整屏蔽体相对屏蔽暗室的位置，克服了屏蔽暗室中电磁波反射叠加的缺陷，有效提高了测试精度。

为了达到上述目的，本发明提供一种电磁屏蔽效能测试系统，包含：

屏蔽暗室；

金属平板，其设置在屏蔽暗室中，该金属平板接触且垂直于屏蔽暗室的底面，该金属平板在屏蔽暗室底面上的投影与屏蔽暗室的底面长边之间具有角度θ，该金属平板上具有测试窗，测试窗上设置有电磁材料网；

信号源，其设置在屏蔽暗室中；

发射天线，其设置在屏蔽暗室中，通过线缆连接信号源，该发射天线垂直于金属平板；

接收天线，其设置在屏蔽暗室中，该接收天线垂直于金属平板；

接收机，其设置在屏蔽暗室中，通过线缆连接接收天线。

发射天线、接收天线与测试窗的中心点位于同一高度，且发射天线、接收天线与测试窗的中心点处于同一直线上。

所述的发射天线与金属平板的距离大于0.8m，接收天线与金属平板的距离大于0.5m。

本发明还提供一种利用所述的电磁屏蔽效能测试系统来进行改善屏蔽效能的测试方法，包含以下步骤：

步骤S1、搭建电磁屏蔽效能测试系统，使金属平板在屏蔽暗室底面上的投影垂直于屏蔽暗室的底边，测量此时电磁屏蔽效能测试系统的电磁屏蔽效能；

步骤S2、根据电磁屏蔽效能测试系统中金属平板上的电磁材料网的尺寸，在三维仿真软件中建立仿真模型，获得电磁屏蔽效能的仿真结果；

步骤S3、调节金属平板的位置，使金属平板在屏蔽暗室底面上的投影与屏蔽暗室的底面长边之间产生角度θ，测量不同角度θ对应的电磁屏蔽效能测试系统的电磁屏蔽效能，并与电磁屏蔽效能的仿真结果进行比较，确定电磁屏蔽效能与仿真结果吻合度最高的角度θ。

所述的测量电磁屏蔽效能的方法具体包含：

步骤1、设置信号源、接收机、发射天线与接收天线的参数，并调节好金属平板的位置；

步骤2、保持信号源的输出功率一致，分别测量未安装电磁材料网和安装电磁材料网的情况下接收天线的接收信号，获得接收场强值；

步骤3、计算电磁材料网的电磁屏蔽效能：

其中，SE_E表示电磁屏蔽效能，E₀表示未安装电磁材料网时的接收场强值，E_S表示安装电磁材料网时的接收场强值。

本发明采用金属平板代替小型屏蔽室，配置更简单，操作更便捷，通过调整屏蔽体相对屏蔽暗室的位置，克服了屏蔽暗室中电磁波反射叠加的缺陷，有效提高了测试精度。

附图说明

图1是背景技术中电磁屏蔽效能测试系统的结构示意图。

图2是本发明提供的电磁屏蔽效能测试系统的结构示意图。

图3是金属平板的结构示意图。

图4是电磁材料网的结构示意图。

图5是电磁波反射示意图。

图6是本发明提供的改进的电磁屏蔽效能测试系统的结构示意图。

图7是电磁屏蔽效能测试结果与仿真结果的对比图。

具体实施方式

以下根据图2～图7，具体说明本发明的较佳实施例。

如图2所示，本发明提供一种电磁屏蔽效能测试系统，包含：

屏蔽暗室1；

金属平板4，其设置在屏蔽暗室1中，该金属平板4接触且垂直于屏蔽暗室1的底面，如图3所示，该金属平板4上具有测试窗401，测试窗401上设置有电磁材料网7(如图4所示)；