[发明专利]一种电磁屏蔽效能测试系统及其改善屏蔽效能的测试方法

权利要求书

1.一种电磁屏蔽效能测试系统，其特征在于，包含：

屏蔽暗室；

金属平板，其设置在屏蔽暗室中，该金属平板接触且垂直于屏蔽暗室的底面，该金属平板在屏蔽暗室底面上的投影与屏蔽暗室的底面长边之间具有角度θ，该金属平板上具有测试窗，测试窗上设置有电磁材料网；

信号源，其设置在屏蔽暗室中；

发射天线，其设置在屏蔽暗室中，通过线缆连接信号源，该发射天线垂直于金属平板；

接收天线，其设置在屏蔽暗室中，该接收天线垂直于金属平板；

接收机，其设置在屏蔽暗室中，通过线缆连接接收天线。

2.如权利要求1所述的电磁屏蔽效能测试系统，其特征在于，发射天线、接收天线与测试窗的中心点位于同一高度，且发射天线、接收天线与测试窗的中心点处于同一直线上。

3.如权利要求1所述的电磁屏蔽效能测试系统，其特征在于，所述的发射天线与金属平板的距离大于0.8m，接收天线与金属平板的距离大于0.5m。

4.一种利用如权利要求1-3中任意一项所述的电磁屏蔽效能测试系统来进行改善屏蔽效能的测试方法，其特征在于，包含以下步骤：

步骤S1、搭建电磁屏蔽效能测试系统，使金属平板在屏蔽暗室底面上的投影垂直于屏蔽暗室的底边，测量此时电磁屏蔽效能测试系统的电磁屏蔽效能；

步骤S2、根据电磁屏蔽效能测试系统中金属平板上的电磁材料网的尺寸，在三维仿真软件中建立仿真模型，获得电磁屏蔽效能的仿真结果；

步骤S3、调节金属平板的位置，使金属平板在屏蔽暗室底面上的投影与屏蔽暗室的底面长边之间产生角度θ，测量不同角度θ对应的电磁屏蔽效能测试系统的电磁屏蔽效能，并与电磁屏蔽效能的仿真结果进行比较，确定电磁屏蔽效能与仿真结果吻合度最高的角度θ。

5.如权利要求4所述的改善屏蔽效能的测试方法，其特征在于，所述的测量电磁屏蔽效能的方法具体包含：

步骤1、设置信号源、接收机、发射天线与接收天线的参数，并调节好金属平板的位置；

步骤2、保持信号源的输出功率一致，分别测量未安装电磁材料网和安装电磁材料网的情况下接收天线的接收信号，获得接收场强值；

步骤3、计算电磁材料网的电磁屏蔽效能：

SEE=20log|E0ES|---(1)]]>

其中，SE_E表示电磁屏蔽效能，E₀表示未安装电磁材料网时的接收场强值，E_S表示安装电磁材料网时的接收场强值。