[发明专利]X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法在审

专利信息
申请号: 201710514955.2 申请日: 2017-06-29
公开(公告)号: CN107389716A 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 杜亚明 申请(专利权)人: 苏州浪声科学仪器有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙)32299 代理人: 张锦波
地址: 215100 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法,包括以下步骤1)取铜矿石标准品和待测铜矿石,再将所述铜矿石标准品、待测铜矿石分别先用混合溶剂和硝酸锶混合搅拌均匀后,再滴加溴化锂,然后于1030~1050℃熔融10~15分钟成标准样片和待测样片,所述混合溶剂为Li2B4O7和LiBO2的混合溶剂,所述Li2B4O7和LiBO2的质量比为3565;2)再将所述标准样片和待检测样片通过X射线荧光光谱仪进行检测,并根据强度与含量确定线性关系,制作校准曲线,得到铜矿石中杂质的含量。本发明的方法的检测灵敏度高,重复性强。
搜索关键词: 射线 荧光 光谱 测定 铜矿 杂质 方法
【主权项】:
一种X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法,包括以下步骤:1)取铜矿石标准品和待测铜矿石,再将所述铜矿石标准品、待测铜矿石分别先用混合溶剂和硝酸锶混合搅拌均匀后,再滴加溴化锂,然后于1030~1050℃熔融10~15分钟成标准样片和待测样片,所述混合溶剂为Li2B4O7和LiBO2的混合溶剂,所述Li2B4O7和LiBO2的质量比为35:65;2)再将所述标准样片和待检测样片通过X射线荧光光谱仪进行检测,并根据强度与含量确定线性关系,制作校准曲线,得到铜矿石中杂质的含量。
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