[发明专利]X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法在审
申请号: | 201710514955.2 | 申请日: | 2017-06-29 |
公开(公告)号: | CN107389716A | 公开(公告)日: | 2017-11-24 |
发明(设计)人: | 杜亚明 | 申请(专利权)人: | 苏州浪声科学仪器有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙)32299 | 代理人: | 张锦波 |
地址: | 215100 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法,包括以下步骤1)取铜矿石标准品和待测铜矿石,再将所述铜矿石标准品、待测铜矿石分别先用混合溶剂和硝酸锶混合搅拌均匀后,再滴加溴化锂,然后于1030~1050℃熔融10~15分钟成标准样片和待测样片,所述混合溶剂为Li2B4O7和LiBO2的混合溶剂,所述Li2B4O7和LiBO2的质量比为3565;2)再将所述标准样片和待检测样片通过X射线荧光光谱仪进行检测,并根据强度与含量确定线性关系,制作校准曲线,得到铜矿石中杂质的含量。本发明的方法的检测灵敏度高,重复性强。 | ||
搜索关键词: | 射线 荧光 光谱 测定 铜矿 杂质 方法 | ||
【主权项】:
一种X射线荧光光谱法测定铜矿石中杂质的方法,包括以下步骤:1)取铜矿石标准品和待测铜矿石,再将所述铜矿石标准品、待测铜矿石分别先用混合溶剂和硝酸锶混合搅拌均匀后,再滴加溴化锂,然后于1030~1050℃熔融10~15分钟成标准样片和待测样片,所述混合溶剂为Li2B4O7和LiBO2的混合溶剂,所述Li2B4O7和LiBO2的质量比为35:65;2)再将所述标准样片和待检测样片通过X射线荧光光谱仪进行检测,并根据强度与含量确定线性关系,制作校准曲线,得到铜矿石中杂质的含量。
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