[发明专利]一种非易失存储器坏块测试方法及系统有效
| 申请号： | 201710481588.0 | 申请日： | 2017-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN107357696B | 公开（公告）日： | 2020-12-22 |
| 发明（设计）人： | 方迪 | 申请（专利权）人： | 义乌市智享通讯设备有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G11C29/44 |
| 代理公司： | 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 | 代理人： | 雷娴;吴辉辉 |
| 地址： | 322013 浙江省金华市义乌*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种非易失存储器坏块测试方法及系统，涉及数据闪存技术领域，该方法包括：提供一个没有坏块的非易失存储器；标记非易失存储器上至少一个块为坏块；烧录嵌入式软件至非易失存储器；观察嵌入式软件是否正常运行；若嵌入式软件不能正常运行，则检测嵌入式软件不合格。本发明可以提供一个比较好的模拟生产测试方法，预警问题，及时发现及时解决，提高软件的可靠性，节约成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 非易失 存储器 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种非易失存储器坏块测试方法，所述方法包括：S1：提供一个没有坏块的非易失存储器；S2：标记所述非易失存储器上至少一个块为坏块；S3：烧录嵌入式软件至所述非易失存储器；S4：观察嵌入式软件是否正常运行；若所述嵌入式软件不能正常运行，则检测所述嵌入式软件不合格。
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