[发明专利]高精度逐次逼近结构ADC的变权重子DAC校正方法有效
| 申请号： | 201710475850.0 | 申请日： | 2017-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN107302359B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 高炜祺;付华丰;郭亮;万辉;廖望;苏晨;雷郎成;李瀛台 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10;H03M1/46;H03M1/66 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 尹丽云 |
| 地址： | 400060 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种高精度逐次逼近结构ADC的变权重子DAC校正方法，包括启动模数转换器进行采样，采集获取转换曲线；根据模数转换器的分辨率，将转换曲线进行分段；预设用于进行偏移误差校正的校正码；针对每一分段分别采用不同的校正码对偏移误差进行校正；本发明中采用分段校正的方法来实现整个转换曲线的线性化，通过在转换曲线的不同分段中采用不同的权重校正值，来实现对整个转换曲线的线性校正，从而实现了对各种转换误差的综合校正，大大减少了器件本身随模拟输入电压变化造成的匹配误差，满足了宽输入高精度模数转换电路的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 高精度 逐次 逼近 结构 adc 权重 dac 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种高精度逐次逼近结构ADC的变权重子DAC校正方法，其特征在于，包括：启动模数转换器进行采样，采集获取转换曲线；根据模数转换器的分辨率，将转换曲线进行分段；预设用于进行偏移误差校正的校正码；针对每一分段分别采用不同的校正码对偏移误差进行校正。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第二十四研究所，未经中国电子科技集团公司第二十四研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710475850.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种四通道TIADC的非线性失配补偿方法
- 下一篇：一种通用模拟采样电路
