[发明专利]高精度逐次逼近结构ADC的变权重子DAC校正方法有效

专利信息
申请号: 201710475850.0 申请日: 2017-06-21
公开(公告)号: CN107302359B 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 高炜祺;付华丰;郭亮;万辉;廖望;苏晨;雷郎成;李瀛台 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十四研究所
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10;H03M1/46;H03M1/66
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 尹丽云
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 高精度 逐次 逼近 结构 adc 权重 dac 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种高精度逐次逼近结构ADC的变权重子DAC校正方法,其特征在于,包括:

启动模数转换器进行采样,采集获取转换曲线;

根据模数转换器的分辨率,将转换曲线进行分段;

预设用于进行偏移误差校正的校正码;

针对每一分段分别采用不同的校正码对偏移误差进行校正;

根据模数转换器需要进行校正的转换位位数,对转换曲线进行分段,若需要进行校正的转换位的数量为n,则将转换曲线分为2n段,并在启动转换时获取最高位转换结果,根据所述最高位转换结果,获取需要校正的n位转换结果;

在启动转换时:

若转换为单极输入,则取第0段的校正码对偏移误差进行校正,并获取最高位转换结果;

若转换为双极输入,则取第2n-1段的校正码对偏移误差进行校正,并获取最高位转换结果;

当最高位为0时,根据最高位转换结果取2n-2段的校正码与前次校正码求和后进行次高位校正,获取次高位转换结果,所述前次校正码包括第0段或第2n-1段校正码;

当最高位为1时,根据最高位转换结果取3*2n-2段的校正码前次求和后进行次高位校正,获取次高位转换结果;

依次获取n位转换结果。

2.根据权利要求1所述的高精度逐次逼近结构ADC的变权重子DAC校正方法,其特征在于:还包括预计算处理,所述预计算处理包括在依次获取n位转换结果过程中,获取每位转换结果之前进行提前计算,并获取两个校正值,当获取上一位的转换结果后,对两个校正值进行选择输出。

3.根据权利要求2所述的高精度逐次逼近结构ADC的变权重子DAC校正方法,其特征在于:所述校正码包括斜率校正码和离散校正码,通过对所述斜率校正码按转换位进行位移操作,再与所述离散校正码相加,获取该转换位的的实际校正值。

4.根据权利要求1所述的高精度逐次逼近结构ADC的变权重子DAC校正方法,其特征在于:在ADC中设置主DAC和子DAC,所述子DAC输出正端与主DAC输出正端连接,所述子DAC输出负端与主DAC输出负端连接,所述子DAC为伪差分结构。

5.根据权利要求4所述的高精度逐次逼近结构ADC的变权重子DAC校正方法,其特征在于:模数转换器进行采样时,控制子DAC输出最高位为1,其余为0。

6.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于:该程序被处理器执行时实现权利要求1至5中任一项所述方法。

7.一种电子终端,其特征在于,包括:处理器及存储器;

所述存储器用于存储计算机程序,所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序,以使所述终端执行如权利要求1至5中任一项所述方法。

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