[发明专利]一种电容传感器结构阻容测试开关装置在审
申请号: | 201710475347.5 | 申请日: | 2017-06-21 |
公开(公告)号: | CN107271939A | 公开(公告)日: | 2017-10-20 |
发明(设计)人: | 方岚;郑宇;赵志鑫;明源 | 申请(专利权)人: | 北方电子研究院安徽有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所34113 | 代理人: | 陈俊 |
地址: | 233030 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开一种电容传感器结构阻容测试开关装置,包括双刀双掷开关与六个单刀单掷开关以及一组用于和待测差分电容固定电极相连的测试单刀单掷开关,针对电容传感器一个可动电极相对与多个固定电极的结构特点设计,双刀双掷开关实现外部测试仪表的切换,第一单刀单掷开关实现外置参考电平端口的控制,每个固定电极配置两个回路控制开关构成测试支路,结合选择支路与切换支路实现对n个差分电容结构阻容测试回路的开关切换控制;采用端口分立连接的方式,每新增一个电极测试端口只需增加两个单刀单掷开关即可,实现被测端口与外部测试仪表回路连接的同时,使非被测端口之间可任意连通,可在有限的硬件条件下实现最大程度的端口扩展。 | ||
搜索关键词: | 一种 电容 传感器 结构 测试 开关 装置 | ||
【主权项】:
一种电容传感器结构阻容测试开关装置,其特征在于,包括双刀双掷开关与六个单刀单掷开关,双刀双掷开关的一组触点与外部电容表测试端端口相连,另一组触点与外部电阻表测试端口相连;第一单刀单掷开关的一端与外置参考电平接入端Vref相连,第二单刀单掷开关与第三单刀单掷开关相串联构成选择支路,第一单刀单掷开关的另一端连接至第二单刀单掷开关与第三单刀单掷开关之间的连接端;第四单刀单掷开关的一端分别与选择支路的一端以及双刀双掷开关的其中一个公共端相连,第四单刀单掷开关的另一端用于和待测差分电容可动电极的一端相连;第五单刀单掷开关与第六单刀单掷开关相串联构成切换支路,待测差分电容可动电极的另一端连接至第五单刀单掷开关与第六单刀单掷开关之间的连接端;所述开关装置还包括一组用于和待测差分电容固定电极相连的测试单刀单掷开关,每个固定电极两端分别连接一个测试单刀单掷开关构成测试支路,所述切换支路与所有的测试支路依次并联,并联电路的一端与双刀双掷开关的另一个公共端相连,并联电路的另一端与所述选择支路的另一端相连。
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