[发明专利]多次扫描光学系统有效

专利信息
申请号: 201710472320.0 申请日: 2017-06-21
公开(公告)号: CN107525587B 公开(公告)日: 2020-02-28
发明(设计)人: 普里亚达桑·迪维亚达桑·潘特 申请(专利权)人: 金属能量分析私人有限公司
主分类号: G01J3/06 分类号: G01J3/06;G01J3/12
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 赵丹
地址: 印度*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及光学系统领域。设想的多次扫描光学系统紧凑且稳定。该系统包括激发源、hydra光缆、波长选择器、光学元件和检测器。激发源被配置为发射复合光。hydra光缆具有头部和多个触手,并被配置为经由第二透镜接收复合光。多个触手被配置为向包括多条光学狭缝(s1‑s8)和多个快门的波长选择器传输复合光。波长选择器被配置为通过多个快门选择性地收集并过滤由第一透镜和多个触手引导的复合光。检测器被配置为检测由光学元件反射的多次谱线扫描,以进行光谱分析。
搜索关键词: 多次 扫描 光学系统
【主权项】:
一种多次扫描光学系统(100),包括:激发源(104),被配置为发射复合光;hydra光缆(106),设置在所述激发源(104)的下游,所述hydra光缆(106)具有头部和多个触手(108),所述多个触手分别配置在所述hydra光缆(106)的多个端部上,其中:·所述头部被配置为经由第二透镜(105b)收集所述激发源(104)发射的复合光;且·所述多个触手(108)被配置为将所述头部收集的复合光分束,并且还被配置成传输多束复合光;波长选择器(103),具有多条光学狭缝(s1‑s8),所述波长选择器(103)被配置为选择性地收集并过滤由第一透镜(105a)引导的复合光和由所述多个触手(108)传输的多束复合光,其还被配置为引导多次谱线扫描,该多次谱线扫描具有不同波长且与所述多条光学狭缝(s1至s8)中的每一条相对应;和检测器(102),被配置为检测由光学元件(101)反射的多次谱线扫描,以进行光谱分析。
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