[发明专利]调校光传感器取样精度值的方法、光传感器及主控装置有效
| 申请号： | 201710454244.0 | 申请日： | 2017-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN107632721B | 公开（公告）日： | 2020-05-22 |
| 发明（设计）人： | 林昌喜 | 申请（专利权）人： | 原相科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/03 | 分类号： | G06F3/03 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种能够用来调校追踪用的光传感器的取样精度的值的方法，包括：自一内存装置读取一精度变异与一精度设定值；于正常模式时量测光传感器的取样精度，产生一实际量测的精度值；根据该精度变异、该实际量测的精度值及该精度设定值，计算正比于该实际量测的精度值的一正规化值；以及通过使用该正规化值以调校该实际量测的精度值。这使得光传感器所回报的分辨率值可以被调校而逼近于或位于实际所设定的分辨率值，调校程序的操作步骤可部分或全部由光传感器及/或远程主控装置所运行。 | ||
| 搜索关键词： | 调校 传感器 取样 精度 方法 主控 装置 | ||
【主权项】：
一种用来调校追踪用的光传感器的取样精度的值的方法，包含：自内存装置读取精度变异与精度设定值；于正常模式时量测所述光传感器的所述取样精度，产生实际量测的精度值；根据所述精度变异、所述实际量测的精度值及所述精度设定值，计算正比于所述实际量测的精度值的正规化值；以及通过使用所述正规化值来调校所述实际量测的精度值。
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