[发明专利]调校光传感器取样精度值的方法、光传感器及主控装置有效
申请号: | 201710454244.0 | 申请日: | 2017-06-14 |
公开(公告)号: | CN107632721B | 公开(公告)日: | 2020-05-22 |
发明(设计)人: | 林昌喜 | 申请(专利权)人: | 原相科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/03 | 分类号: | G06F3/03 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 调校 传感器 取样 精度 方法 主控 装置 | ||
本发明公开了一种能够用来调校追踪用的光传感器的取样精度的值的方法,包括:自一内存装置读取一精度变异与一精度设定值;于正常模式时量测光传感器的取样精度,产生一实际量测的精度值;根据该精度变异、该实际量测的精度值及该精度设定值,计算正比于该实际量测的精度值的一正规化值;以及通过使用该正规化值以调校该实际量测的精度值。这使得光传感器所回报的分辨率值可以被调校而逼近于或位于实际所设定的分辨率值,调校程序的操作步骤可部分或全部由光传感器及/或远程主控装置所运行。
技术领域
本发明涉及一种光学感测机制,特别有关于一种能够用来调校追踪用的光传感器的取样精度的值(或称为分辨率值)的方法、光传感器及远程主控装置。
背景技术
一般来说,现有的传统机制使用一光传感器来追踪并感测一可移动电子装置(例如鼠标装置)的位移,该光传感器系被安排用来基于自一反射表面所反射的光线来追踪并感测位移结果,然而,实际上在每一种状况,均不可能保证自光传感器至相对应反射表面的距离为固定距离以及不可能保证镜头的放大参数没有发生变动,而一旦在镜头的放大参数及距离发生一个细微的变动,都可能造成该光传感器所追踪感测到的移动/位移结果有明显的差异,而这会导致即使在每一种状况下的实际感测位移是相同的,自光传感器所回报的取样精度的值也会有所不同。
发明内容
因此本发明的目的之一在于公开一种用来调校追踪用的光传感器的取样精度的值的机制,以解决上述的难题。
根据本发明实施例,公开了一种能够用来调校追踪用的光传感器的一取样精度的值的方法。该方法包含:自一内存装置读取一精度变异与一精度设定值;于一正常模式时量测该光传感器的该取样精度,产生一实际量测的精度值;根据该精度变异、该实际量测的精度值及该精度设定值,计算正比于该实际量测的精度值的一正规化值;以及通过使用该正规化值以调校该实际量测的精度值。
根据本发明的实施例,公开了一种光传感器。该光传感器能够用来调校该光传感器自身的取样精度的值,并包含一内存装置、一侦测电路及一控制器,内存装置储存有一精度变异及一精度设定值,侦测电路系用来于一正常模式时量测该光传感器的该取样精度,产生一实际量测的精度值,以及控制器系耦接至内存装置与侦测电路,并用来根据该精度变异、该实际量测的精度值及该精度设定值来计算正比于该实际量测的精度值的一正规化值,以及通过使用该正规化值来调校该实际量测的精度值。
根据本发明的实施例,公开了一种远程连接至一光传感器并能够用来调校该光传感器的一取样精度的值的主控装置。主控装置包含有一内存装置及一控制器,内存装置系用来储存一精度变异及一精度设定值,控制器系耦接至内存装置并用来控制该光传感器于一正常模式时量测该光传感器的该取样精度以产生一实际量测的精度值,根据该精度变异、该实际量测的精度值及该精度设定值来计算正比于该实际量测的精度值的一正规化值,以及通过使用该正规化值来调校该实际量测的精度值。
根据本发明的实施例,其所能够公开的优点之一在于光传感器所回报的分辨率值(也就是上述取样精度的值)可以被调校而逼近于或位于实际所设定的分辨率值,该调校程序的操作步骤可部分或全部由光传感器及/或远程主控装置所运行。
附图说明
图1是本发明实施例能够用来调校追踪用的一光传感器的一取样精度的值的方法流程图。
图2是能够调校光传感器自身的取样精度的值的光传感器的方块示意图。
图3是远程连接至一光传感器并能够调校光传感器的取样精度的值的主控装置的方块示意图。
其中,附图标记说明如下:
105~130 步骤
200、301 光传感器
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