[发明专利]一种利用可见光削减纳米银对硝酸盐去除不利影响的方法有效
| 申请号： | 201710429846.0 | 申请日： | 2017-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN107265656B | 公开（公告）日： | 2020-06-23 |
| 发明（设计）人： | 郑雄;陈银广;梁琳达;张媛媛 | 申请（专利权）人： | 同济大学 |
| 主分类号： | C02F3/34 | 分类号： | C02F3/34;C02F3/28;C12N1/00;C02F101/16;C02F101/20 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 张磊 |
| 地址： | 200092 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种利用可见光削减纳米银对硝酸盐去除不利影响的方法，包括以下步骤：（1）配制反硝化培养基，调节pH值至7.0，在预定温度下高压灭菌第一预定时间；（2）在厌氧环境下，将经超声处理过的AgNPs悬浮液加入经步骤（1）处理的反硝化培养基中，接种反硝化微生物；（3）于恒温光照摇床内振荡培养第二预定时间，进行反硝化作用。本方法所采用的光源属于可见光的范畴，实际可操作性强，可直接利用自然界中的可见光，这显著降低了削减纳米银材料不利影响的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 可见光 削减 纳米 硝酸盐 去除 不利 影响 方法 | ||
【主权项】：
一种利用可见光削减纳米银对硝酸盐去除不利影响的方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）配制反硝化培养基，调节其pH值至7.0，控制反硝化培养基的初始 NO3‑‑N 浓度为300 mg/L，在预定温度下高压灭菌第一预定时间；（2）在厌氧环境下，将经超声处理过的AgNPs悬浮液加入经步骤（1）处理的反硝化培养基中，接种反硝化微生物；控制暴露的AgNPs的浓度为1mg/L～5mg/L；（3）于恒温光照摇床内振荡培养第二预定时间，进行反硝化作用；其中：控制恒温的温度为30 ℃，光照强度为12000LX，振荡培养的转速为160rpm，第二预定时间为24h。
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