[发明专利]基于薄膜厚度测量辅助定位的膜厚监测方法

摘要

本发明公开了一种基于薄膜厚度测量辅助定位的膜厚监测方法，执行机构中的刻印单元在冷却成型铸片的预设位置上刻印出V形或U形缺口印记，采集模块从测厚仪获取薄膜剖面厚度曲线数据，由分析处理模块进行分析处理，获得厚度曲线上各点的厚度值，又基于缺口极值点对模头螺栓进行准确定位。本发明通过印记刻印和剖面数据处理，实现对薄膜厚度的实时监测，为膜厚控制提供了有效依据，能警示膜厚异常数据，且辅助定位所需的刻印量少。

主权项

1.一种基于薄膜厚度测量辅助定位的膜厚监测方法，包括以下步骤：S1)辅助定位刻印初始化，刻印工位调整，等待刻印周期；S2)执行机构中的刻印单元在由挤出机挤出后冷却成型的铸片上刻印V形或U形缺口印记，其中，所述刻印是在处理单元的指令下，由强度调节单元、调焦单元和驱动单元共同控制执行机构动作而实现，所述刻印单元采用激光刻印模块，且设置在用来将从挤出机挤出的薄膜原料熔体贴在激冷辊上的主气刀的前方，其所刻印的印记由多个深度不同的矩形刻槽组成；所述激光刻印模块为两个，且其刻印头分别与挤出机模头两端部螺栓位置相固定连接，刻印时使得印记的中心点与螺栓中心线沿唇口垂线对齐；S3)采集单元从测厚仪采集薄膜剖面厚度曲线数据后传送给处理单元；S4)处理单元通过对所述曲线的极值点搜索和判断，分析、计算出各点薄膜厚度和挤出机模头各螺栓的位置；S5)数据输出单元输出剖面各点厚度值，在厚度曲线上标记各模头螺栓位置，并在厚度值超出预先设置的范围时发出警示。