[发明专利]一种快速检测有机半导体溴化反应产物组成的紫外可见吸收光谱分析法有效

专利信息
申请号: 201710419938.0 申请日: 2017-06-06
公开(公告)号: CN107247029B 公开(公告)日: 2020-01-21
发明(设计)人: 陆振欢;张伟明;徐金海;林金松;苏潇帆;林富欢;覃兴宁 申请(专利权)人: 桂林理工大学
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 541004 广西壮*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明公开了一种快速检测有机半导体溴化反应产物组成的紫外可见吸收光谱分析法。该方法步骤为:先将有机半导体的两种溴代产物按不同比例混合溶于有机溶剂,并测试其紫外‑可见吸收光谱;根据不同组成比例混合溶液的吸收曲线形状,分别计算其积分面积、峰宽、峰高、混合溶液的吸收曲线与原料吸收曲线相减后得到的峰高等数据,分别将上述数据与其组成比例联系,即可得到多个计算公式,通过实验验证出最优公式;测试未知产物组成比例的有机半导体溴化反应原液吸收曲线,即可通过这些公式计算得到产物组成比例。该方法操作快捷,成本低廉,为有机半导体工业化生产领域,提供了一种快速检测溴化反应产物组成比例的新技术。
搜索关键词: 一种 快速 检测 有机半导体 反应 产物 组成 紫外 可见 吸收 光谱分析
【主权项】:
1.一种快速检测有机半导体溴化反应产物组成的紫外可见吸收光谱分析法,其特征在于:/n先将有机半导体的两种溴代产物按不同比例混合溶于有机溶剂,并测试其紫外-可见吸收光谱;/n根据不同组成比例混合溶液的吸收曲线形状,分别计算其积分面积、峰宽、峰高、混合溶液的吸收曲线第一峰和第二峰与原料吸收曲线相减后得到的第一峰高数据和第二峰高数据,分别将上述数据与其组成比例联系,即可得到多个计算公式,通过实验验证出最优公式;/n测试未知产物组成比例的有机半导体溴化反应原液吸收曲线,收集上述数据,即可通过这些公式计算得到产物组成比例;/n所述有机半导体溴化反应,为可控制条件,使只生成两种溴化产物的反应;所述混合溶液是由两种溴化产物按摩尔比由1:0至0:1多种不同比例混合,溶于易溶解两者的有机溶剂中获得,浓度为10
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