[发明专利]多普勒差分式干涉仪的装调方法有效
申请号: | 201710384345.5 | 申请日: | 2017-05-26 |
公开(公告)号: | CN107238438B | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
发明(设计)人: | 李娟;孙剑;冯玉涛;傅頔;李立波;张智南;白清兰;胡炳樑 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45;G01J3/10;G01J3/02;G01J3/28 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 陈广民 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明属于干涉光谱技术领域,具体涉及一种多普勒差分式干涉仪的装调方法。该方法主要包括建立系统基准、装调分光棱镜、装调视场展宽棱镜和装调光栅等步骤。本发明通过将两个经纬仪与激光器相结合,可以直接有效地获得接近设计要求的干涉仪安装方式,从而得到精确的干涉条纹信息。 | ||
搜索关键词: | 多普勒 分式 干涉仪 方法 | ||
【主权项】:
1.一种多普勒差分式干涉仪的装调方法,其特征在于,包括以下步骤:1)建立系统基准:在分光棱镜的入射面处安装第一经纬仪,在分光棱镜的出射面处安装第二经纬仪,利用两台经纬仪建立系统基准;2)装调分光棱镜:调整分光棱镜,使第一经纬仪对分光棱镜的入射面自准直,并使第二经纬仪对分光棱镜的出射面自准直;3)装调视场展宽棱镜:利用第一经纬仪与分光棱镜建立的基准,在分光棱镜入射面的对侧放置第一视场展宽棱镜,并将第二经纬仪放置在第一视场展宽棱镜的出射面位置;通过第二经纬仪观测第一视场展宽棱镜的反射像,调整第一视场展宽棱镜的位置,使第一视场展宽棱镜的反射像与第二经纬仪的测量十字丝相重合;利用第一经纬仪与分光棱镜建立的基准,在分光棱镜出射面的对侧放置第二视场展宽棱镜,并将第二经纬仪放置在第二视场展宽棱镜的出射面位置;通过第二经纬仪观测第二视场展宽棱镜的反射像,调整第二视场展宽棱镜的位置,使第二视场展宽棱镜的反射像与第二经纬仪的测量十字丝相重合;4)装调光栅:在第一经纬仪内引入光源;利用第一经纬仪与分光棱镜建立的基准,在第一视场展宽棱镜的外侧放置第一光栅,并将第二经纬仪放置在分光棱镜的出射面位置;通过第二经纬仪观测第一光栅的反射像,调整第一光栅的位置,使第一光栅的反射像与第二经纬仪的测量十字丝呈设计的角度值;利用第一经纬仪与分光棱镜建立的基准,在第二视场展宽棱镜的外侧放置第二光栅,并将第二经纬仪放置在分光棱镜的出射面位置;通过第二经纬仪观测第二光栅的反射像,调整第二光栅的位置,使第二光栅的反射像与第二经纬仪的测量十字丝呈设计的角度值。
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