[发明专利]多普勒差分式干涉仪的装调方法有效

专利信息
申请号: 201710384345.5 申请日: 2017-05-26
公开(公告)号: CN107238438B 公开(公告)日: 2018-08-03
发明(设计)人: 李娟;孙剑;冯玉涛;傅頔;李立波;张智南;白清兰;胡炳樑 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01J3/10;G01J3/02;G01J3/28
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 陈广民
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于干涉光谱技术领域,具体涉及一种多普勒差分式干涉仪的装调方法。该方法主要包括建立系统基准、装调分光棱镜、装调视场展宽棱镜和装调光栅等步骤。本发明通过将两个经纬仪与激光器相结合,可以直接有效地获得接近设计要求的干涉仪安装方式,从而得到精确的干涉条纹信息。
搜索关键词: 多普勒 分式 干涉仪 方法
【主权项】:
1.一种多普勒差分式干涉仪的装调方法,其特征在于,包括以下步骤:1)建立系统基准:在分光棱镜的入射面处安装第一经纬仪,在分光棱镜的出射面处安装第二经纬仪,利用两台经纬仪建立系统基准;2)装调分光棱镜:调整分光棱镜,使第一经纬仪对分光棱镜的入射面自准直,并使第二经纬仪对分光棱镜的出射面自准直;3)装调视场展宽棱镜:利用第一经纬仪与分光棱镜建立的基准,在分光棱镜入射面的对侧放置第一视场展宽棱镜,并将第二经纬仪放置在第一视场展宽棱镜的出射面位置;通过第二经纬仪观测第一视场展宽棱镜的反射像,调整第一视场展宽棱镜的位置,使第一视场展宽棱镜的反射像与第二经纬仪的测量十字丝相重合;利用第一经纬仪与分光棱镜建立的基准,在分光棱镜出射面的对侧放置第二视场展宽棱镜,并将第二经纬仪放置在第二视场展宽棱镜的出射面位置;通过第二经纬仪观测第二视场展宽棱镜的反射像,调整第二视场展宽棱镜的位置,使第二视场展宽棱镜的反射像与第二经纬仪的测量十字丝相重合;4)装调光栅:在第一经纬仪内引入光源;利用第一经纬仪与分光棱镜建立的基准,在第一视场展宽棱镜的外侧放置第一光栅,并将第二经纬仪放置在分光棱镜的出射面位置;通过第二经纬仪观测第一光栅的反射像,调整第一光栅的位置,使第一光栅的反射像与第二经纬仪的测量十字丝呈设计的角度值;利用第一经纬仪与分光棱镜建立的基准,在第二视场展宽棱镜的外侧放置第二光栅,并将第二经纬仪放置在分光棱镜的出射面位置;通过第二经纬仪观测第二光栅的反射像,调整第二光栅的位置,使第二光栅的反射像与第二经纬仪的测量十字丝呈设计的角度值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710384345.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top