[发明专利]多普勒差分式干涉仪的装调方法有效
申请号: | 201710384345.5 | 申请日: | 2017-05-26 |
公开(公告)号: | CN107238438B | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
发明(设计)人: | 李娟;孙剑;冯玉涛;傅頔;李立波;张智南;白清兰;胡炳樑 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45;G01J3/10;G01J3/02;G01J3/28 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 陈广民 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多普勒 分式 干涉仪 方法 | ||
1.一种多普勒差分式干涉仪的装调方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)建立系统基准:
在分光棱镜的入射面处安装第一经纬仪,在分光棱镜的出射面处安装第二经纬仪,利用两台经纬仪建立系统基准;
2)装调分光棱镜:
调整分光棱镜,使第一经纬仪对分光棱镜的入射面自准直,并使第二经纬仪对分光棱镜的出射面自准直;
3)装调视场展宽棱镜:
利用第一经纬仪与分光棱镜建立的基准,在分光棱镜入射面的对侧放置第一视场展宽棱镜,并将第二经纬仪放置在第一视场展宽棱镜的出射面位置;通过第二经纬仪观测第一视场展宽棱镜的反射像,调整第一视场展宽棱镜的位置,使第一视场展宽棱镜的反射像与第二经纬仪的测量十字丝相重合;
利用第一经纬仪与分光棱镜建立的基准,在分光棱镜出射面的对侧放置第二视场展宽棱镜,并将第二经纬仪放置在第二视场展宽棱镜的出射面位置;通过第二经纬仪观测第二视场展宽棱镜的反射像,调整第二视场展宽棱镜的位置,使第二视场展宽棱镜的反射像与第二经纬仪的测量十字丝相重合;
4)装调光栅:
在第一经纬仪内引入光源;
利用第一经纬仪与分光棱镜建立的基准,在第一视场展宽棱镜的外侧放置第一光栅,并将第二经纬仪放置在分光棱镜的出射面位置;通过第二经纬仪观测第一光栅的反射像,调整第一光栅的位置,使第一光栅的反射像与第二经纬仪的测量十字丝呈设计的角度值;
利用第一经纬仪与分光棱镜建立的基准,在第二视场展宽棱镜的外侧放置第二光栅,并将第二经纬仪放置在分光棱镜的出射面位置;通过第二经纬仪观测第二光栅的反射像,调整第二光栅的位置,使第二光栅的反射像与第二经纬仪的测量十字丝呈设计的角度值。
2.根据权利要求1所述的多普勒差分式干涉仪的装调方法,其特征在于:步骤1)中的系统基准是通过旋转第一经纬仪和第二经纬仪进行十字丝穿心的方法而建立的。
3.根据权利要求1或2所述的多普勒差分式干涉仪的装调方法,其特征在于:经步骤2)装调后,分光棱镜的中心与第一经纬仪和第二经纬仪的激光交叉点重合。
4.根据权利要求3所述的多普勒差分式干涉仪的装调方法,其特征在于:步骤3)中放置第二经纬仪之后,先在第二经纬仪中找到第一视场展宽棱镜和第二视场展宽棱镜的反射像并将第二经纬仪自准直,再通过旋转第一经纬仪和第二经纬仪进行十字丝穿心的方法建立基准,然后将第一经纬仪和第二经纬仪转回,最后再调整第一视场展宽棱镜和第二视场展宽棱镜的位置。
5.根据权利要求4所述的多普勒差分式干涉仪的装调方法,其特征在于:步骤4)中在放置第二经纬仪之后,先要对第二经纬仪进行自准,调整第二经纬仪使其分别对分光棱镜和第一经纬仪的反射像重合且能自准直,同时使第二经纬仪和第一经纬仪呈设计角度值,然后再对第一光栅和第二光栅进行调整。
6.根据权利要求5所述的多普勒差分式干涉仪的装调方法,其特征在于:步骤4)中引入的光源为He-Ne激光器。
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