[发明专利]一种激光线扫描与阴影莫尔的复合式测量系统及测量方法有效

专利信息
申请号: 201710378611.3 申请日: 2017-05-25
公开(公告)号: CN107167093B 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 艾永旭;杨涛;金瑞 申请(专利权)人: 西安知象光电科技有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/25
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 710003 陕西省西安市高新*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种激光线扫描与阴影莫尔的复合式测量系统及测量方法。该方法先采用相位激光线扫描技术对被测物体进行一次粗测量,再用阴影莫尔轮廓术对被测物体进行一次精测量。并利用粗测量的测量结果辅助精测量的相位去包裹,实现对台阶的精确量。测量装置的光源采用激光微振镜投影仪,既能够实现快速的激光线扫描也能为阴影莫尔测量提供全场均匀的照明。所有测量在一个系统内完成,两次测量之间被测物体不需要做任何移动。保证了测量精度和测量速度。
搜索关键词: 测量 激光线扫描 被测物体 阴影 复合式测量系统 粗测量 投影仪 测量装置 两次测量 轮廓术 微振 光源 激光 移动 保证
【主权项】:
1.一种激光线扫描与阴影莫尔的复合式测量系统,其特征在于:将激光MEMS投影仪作为激光线扫描的光源和阴影莫尔测量的光源;复合式测量系统测量系统分别进行激光线扫描和阴影莫尔轮廓测量,利用激光线扫描得到的测量结果辅助阴影莫尔轮廓测量的相位解包裹;激光MEMS投影仪首先生成线激光,利用激光线扫描对物体进行粗测量,再利用阴影莫尔轮廓测量对物体进行精测量,利用粗测量的结果辅助精测量的相位解包裹;利用单目标定技术求解出相机和光栅的位置关系,再利用逆相机标定技术标定出光源和相机的位置关系,得到阴影莫尔测量系统中相机、光源、光栅三者的位置关系;按照如下步骤:第一步,标定系统光学参数,阴影莫尔轮廓测量中需要标定相机、光栅、光源三者的位置关系,激光线扫描系统中需要标定投影仪和相机两者的位置关系;第二步,采用激光线扫描对物体进行粗测量,将光栅上移,使被测物体位于阴影莫尔轮廓测量的深度测量范围外,利用激光MEMS投影仪生成光刀,对待测物体进行一次粗测量;第三步,利用阴影莫尔轮廓测量待测物体进行精确测量,将光栅下降至合适的位置,使之靠近物体表面,激光MEMS投影仪向物体投射全亮画面,这将在物体表面生成莫尔条纹,利用相移法对被测物体表面的轮廓进行精确测量;第四步,测量数据融合,利用激光线扫描的测量结果辅助阴影莫尔轮廓测量进行相位解包裹,获得精度高,无包裹的测量结果;所述标定系统光学参数按照如下步骤:(1).调整好相机的光圈和焦距,准备好标定板,进行相机标定及相机光栅相对位置标定,将标定板置于相机视场内,改变标定板的位姿,采集标定板的图像;再将标定板紧贴光栅下表面,采集标定板图像,利用单目相机标定技术能够标定出相机内参和相机与光栅的位姿关系[R1,T1];(2).相机投影仪类双目标定,将标定板置于相机和投影仪的共同视场内,改变标定板的位姿,利用逆相机标定技术标定出相机和投影仪的位姿关系[R2,T2],具体标定过程如下:1)摆放好标定板,使之位于相机和投影仪的共同视场内,用相机拍摄标定板的图像,保存每一张图像,并提取图像中标定板中每个标志点的图像坐标和圆心的亚像素坐标;2)用MEMS投影仪向标定板分别投射一组水平方向和垂直方向的相移条纹图,并用相机记录下标定板上的条纹图;3)对条纹相位图进行处理,将位于标志点上的像素置为NAN,提取出条纹相位并解包裹,得到水平方向和垂直方向的投影条纹的绝对相位值,根据相机坐标系下的标志点圆心所对应的像素,利用二维插值得到圆心位置处的条纹绝对相位;4)根据获得的标志点圆心的绝对相位,利用插值法确定在投影仪中的标准投影图像上相位值等于标志点圆心的绝对相位的亚像素坐标,将该亚像素坐标作为标志点圆心的在投影仪的逆相机模型的坐标;5)改变标定板的位姿,重复上述步骤,得到多组标定板位于不同位姿的时的圆心在投影仪和摄像机中的图像坐标;6)在计算出标志点在投影仪的逆相机模型的坐标后,对投影仪进行标定,得到投影仪的内部参数和相机与投影仪的相对位置位姿矩阵[R2,T2];(3).对位姿矩阵[R1,T1]和[R2,T2]进行坐标变换,得到相机到光栅的距离h1,投影仪到光栅的距离h2,以及相机到投影仪的距离d,利用调整装置上下调节投影仪的位置使h2=h1,并更新[R2,T2]。
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